Gebraucht FEI FIB 200 #9179238 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9179238
Weinlese: 1999
Focused ion beam system
Magnum ion column
Gallium liquid metal ion source (LMIS)
CCG Vacuum gage
CDEM Detector
(5) Axes compucentric
Stage XYZ: 50mm x 50mm x 25mm
Computer controller: Windows XP Pro SP3 (2002)
FEI xP UI
MUI Controls and joystick
CCD Chamber camera
TMP With mechanical roughing pump
(12) Positions aperture strip
(2) GIS:
Platinum GIS
Xenon difluoride GIS
Includes:
Transformers
Power supplies
Gas injectors:
XeF2
Idep
Pt
FEI / MICRION Vectra 986
Particle beam system
I-Gun type: 5nm Column
Beam current: 3pA~931pA (50KV)
1999 vintage.
FEI FIB 200 ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM). Es ist eine Art Elektronenmikroskop, das einen Rasterelektronenstrahl mit niedriger Energie und hoher Auflösung verwendet, um scharfe und klare Bilder zu erhalten. FIB 200 besteht aus einem Paar konzentrischer Zylinder, die eine Elektronenquelle und einen parallel zum Elektronenstrahl angeordneten Detektor enthalten. Die Quelle der Elektronen wird aus einer Feldemissionskanone (FEG) erzeugt, die eine Art Elektronenkanone ist, die Felder intensiven elektrischen Potentials zur Emission von Elektronen verwendet. Die zwischen den beiden konzentrischen Zylindern beschleunigten Elektronen treffen auf ein Probengitter, wodurch ein Muster aus Sekundärelektronen und rückgestreuten Elektronen entsteht. Zusammen bilden diese Elektronen ein Bild, das die Strukturen und Merkmale der Probe enthüllt. Das Gerät verfügt auch über variable Elektronenstrahlströme im Bereich von 0,1-200 pA und variable Beschleunigungsspannungen im Bereich von 0,1-30 keV, so dass Forscher Bilder von feinsten Details zu erhalten. Darüber hinaus ermöglicht es FEI FIB 200 Forschern, eine Reihe von bildgebenden Techniken zu verwenden, darunter: sekundäre Elektronenbildgebung, analytische Scanminchanneling-Bildgebung, Backscatter-Bildgebung und energiedispersive Röntgenanalyse (EDX). FIB 200 bietet auch eine Vielzahl von Optionen für die Probenvorbereitung, Analyse und Modifikation, einschließlich: Kryo-Prep, Ultramikrotomie, Ionenfräsen und Gaseinspritzsysteme. Durch die Kombination der Merkmale dieses Instruments mit denen eines traditionellen SEM sind Forscher und Ingenieure gleichermaßen in der Lage, ihre gewünschten Ergebnisse mit der ultimativen Präzision zu erzielen. Das System FEI FIB 200 ist einfach zu bedienen, benutzerfreundlich und hocheffizient, was es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Labore aller Art. Mit den zahlreichen Vorteilen, die dieses System zu bieten hat, können Anwender erwarten, mehr Genauigkeit bei der Betrachtung von Proben sowie fantastische Ergebnisse in der Analyse und Bildgebung zu erhalten.
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