Gebraucht FEI FIB 800 #9200349 zu verkaufen
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ID: 9200349
Focused Ion Beam (FIB) system
Does not include:
GIS
Columns
Circuit boards
30 kV High voltage boxes.
FEI FIB 800 ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene bildgebende Anwendungen. Es ist mit einem fortschrittlichen analytischen Paket ausgestattet, das ein energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS), ein wellenlängendispersives Röntgenspektrometer (WDS) und einen Au-Metall-Verdampfer enthält, um oberflächensensitive Analysetechniken zu erleichtern. Dieses Instrument wird für die Subnanometer-Skalenbildgebung und -analyse in einer Vielzahl von Disziplinen wie Materialwissenschaft, Geologie, Halbleitertechnik und Biologie eingesetzt. FIB 800 ist in der Lage, extrem hohe Detailgenauigkeiten und Auflösungen in seinen bildgebenden Funktionen anzuzeigen. Das SEM verwendet einen einzigartigen Rasterelektronenstrahl, der mit einer Reihe unterschiedlicher Strahlenergien arbeitet, um Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen, Spektrumanalysen, Energieverlustspektrometrie und Niederspannungsbilder zu erhalten. Dies ermöglicht eine hohe Genauigkeit bei der Erfassung und Analyse extrem kleiner Objekte wie Viren oder Kristallgitter. Die Beleuchtung des abgebildeten Bereichs kann auch Intensität variieren und ist zur Aufnahme verschiedener Probendicke und Oberflächenverhältnisse einstellbar. FEI FIB 800 verfügt über eine Kammer mit einer elektrisch gesteuerten Probenstufe, die sowohl statische als auch dynamische Prozesse in Echtzeit abbildet. Diese Stufe hat eine hohe Genauigkeit und Präzision bei der Bewegung der Probe mit sehr geringer Trägheit und Vibrationen, die besonders vorteilhaft bei der Abbildung von fragilen oder biologischen Proben sind. Das EDS ermöglicht es dem Anwender, die elementare Zusammensetzung des Probenmaterials zu identifizieren und zu analysieren. Das WDS dient zur Detektion und Quantifizierung der Zusammensetzung von Röntgenstrahlen, die von der Probe emittiert werden, wenn der Strahl mit Elektronen beschossen wird, während der Verdampfer das Sputtern oder Abscheiden auf die Probenoberfläche ermöglicht. Darüber hinaus werden die bildgebenden Fähigkeiten dieses Instruments durch seine integrierte Analysesoftware, die zur Messung von Fläche, Intensität, Kantenschärfe und sogar Oberflächenelementen von Probenmerkmalen verwendet werden kann, weiter verbessert. FIB 800 ist ein leistungsstarkes, anspruchsvolles Werkzeug und in der Lage, eine Vielzahl von komplexen Bildgebungs- und Analyseaufgaben an einer Vielzahl von Proben durchzuführen. Seine überlegene Auflösung und umfangreiche Analysefunktionen machen es für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen gut geeignet.
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