Gebraucht FEI FIB 800 #9393458 zu verkaufen

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ID: 9393458
Focused Ion Beam (FIB) System Deposition system: Pt, EE XL50 Motor stage: 200 mm Loadlock type: Loadlock Detector: CDEM I-Gun: Type: Prelens column Beam current: 1 pA - 11 nA Vacuum type: Turbo-molecular pump Mechanical pump Ion getter pump Operating system: MS Windows NT.
FEI FIB 800, entwickelt von FEI Company, ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop mit erweiterten Funktionen für hochauflösende, bildgebende und mikroanalytische Funktionen. Mit seinem großen Sichtfeld und der ultrahochauflösenden Bildgebung kann FIB 800 in vielen wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen ein beispielloses Maß an Detailtreue und Informationstiefe erreichen. FEI FIB 800 ist mit einer Elektronenoptiksäule (FEG) und einem Elektronenmikroskop (CFEG-SEM) ausgestattet, eine einzigartige Kombination von Technologien, die beispiellose Bildqualität, Auflösung und Tiefenschärfe ermöglichen. Die FEG-Säule ist für die Erzeugung eines hohen E-Strahlflusses verantwortlich, um extrem klare und scharfe Bilder mit hohem Kontrast und Auflösung zu erzeugen. Die CFEG-SEM-Technologie wurde entwickelt, um extrem detaillierte Bilder mit einer maximalen Auflösung von bis zu 2nm bereitzustellen, eine der höchsten erreichbaren Auflösungsstufen in der Rasterelektronenmikroskopindustrie. Die Vielseitigkeit von FIB 800 erstreckt sich auf Anwendungen in der Materialwissenschaft, Chemie, Geologie und biologischen Bereichen, in denen Auflösungen von mehr als 10nm oder 100nm benötigt werden. Neben der hochauflösenden Bildgebung verfügt FEI FIB 800 auch über eine Reihe anspruchsvoller Analysetechniken wie Gerätesondierung und Nano-OVIT-Programmierung, energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS), Elektronenrückstreuung (EBSD), Darüber hinaus ermöglicht das fortschrittliche Softwarepaket FIB 800 eine automatisierte Analyse und Sammlung von Daten, so dass Benutzer Ergebnisse schnell und genau analysieren können. FEI Visualization Software Suite enthält eine Reihe von leistungsstarken Tools, wie automatisierte Region Positionserkennung, für genaue Messung und sofortige Ergebnisse. FEI FIB 800 ist die perfekte Wahl für Profis, die in einem Rasterelektronenmikroskop ein Höchstmaß an Bildgebungs- und Mikroanalysefähigkeiten suchen. Mit seiner Kombination von fortschrittlichen Funktionen kann FIB 800 die anspruchsvollsten Anforderungen in einem breiten Spektrum von wissenschaftlichen Bereichen erfüllen.
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