Gebraucht FEI FIB-800XP #9104016 zu verkaufen

FEI FIB-800XP ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), ideal für eine Vielzahl von nanoskaligen bildgebenden und analytischen Anwendungen. Es bietet eine verbesserte Auflösung mit der Fähigkeit, Proben bis auf 0,1 nm abzubilden und zu analysieren. Das 800XP arbeitet mit einem Dual-Strahl-System für optimale Flexibilität, so dass Benutzer zwischen Anwendungen wie Elektronenstrahl-induzierte Abscheidung (EBID) und fokussierte Ionenstrahl (FIB) Fräsen wechseln. Die SEM-Hauptspalte bietet eine breite Palette von Funktionen für die standortspezifische Bildgebung und Charakterisierung. Eine einzigartige, robuste Umgebung sorgt dafür, dass die optimale Probe bei minimaler Vibration erhalten bleibt, wodurch das Risiko von Probenschäden minimiert wird. Der Elektronenstrahl wird von einem Emitter (FEG) erzeugt, der Elektronen in einem begrenzten Energiebereich emittiert. Dies sorgt für eine höhere Bildqualität durch einen besseren Bildkontrast, der sich durch eine höhere Fokustiefe und eine verbesserte Empfindlichkeit auszeichnet. Neben der erweiterten SEM-Bildgebung umfasst FIB-800XP auch eine In-Column-Ionenstrahlmühle (IBM) für FIB-Operationen. Der IBM wird von einer Ga-Ionenquelle für präzises FIB-Fräsen und Abscheiden angetrieben. Es verfügt über die Fähigkeit, 3D-Strukturen mit hochauflösender Strukturdefinition zu erstellen. Das 800XP verfügt über einen digitalen Detektor, der mehr Emissionen aus der Säule erfasst und so Bilder höchster Qualität für die 3D-Analyse liefert. Die 800XP umfasst auch die Fähigkeit, Oberflächenzusammensetzung mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) zu analysieren. Dieses System kann verwendet werden, um die Verteilung von Elementen in einer Probe sowie Informationen über die chemische Bindung zwischen ihnen zu erfassen. Die 800XP bietet auch die notwendige Software zur automatisierten Manipulation des Elektronenstrahls für die analytische Bildgebung und Spektroskopie. Dazu gehören erweiterte Automatisierungsfunktionen, die die Effizienz maximieren, die Datengenauigkeit erhöhen und Betriebsfehler reduzieren sollen. Mit seiner Dual-Beam-Technologie, hochauflösenden SEM-Bildgebung, FIB-Fräsen und EDS-Fähigkeiten bietet FEI FIB-800XP Forschern ein fortschrittliches und zuverlässiges Werkzeug für ihre nanoskalige Forschung. Daher sind diese Fähigkeiten in Kombination mit modernstem Design, flexiblen Funktionen und hoher Leistung eine ideale Option für eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Aufgaben.