Gebraucht FEI Inspect-F #9284147 zu verkaufen

FEI Inspect-F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für die strukturelle Analyse und Untersuchung verschiedener Materialien und Halbleiterbauelemente konzipiert ist. Inspect-F bietet Niederspannungs-Bildgebungsfunktionen, die eine Reihe von Optionen bieten, einschließlich rückgestreuter Elektronenbildgebung, sekundärer Elektronenbildgebung und Kathodolumineszenzbildgebung. Die Niederspannungs-Bildgebung hilft, detaillierte Bilder der Oberflächenschichten der Proben zu liefern und ermöglicht die Abbildung ultradünner Proben, die für normale SEMs zu klein sind. FEI Inspect-F hat eine überlegene Auflösung von bis zu 1 nm, eine Funktion, die vergrößerte Ansichten der nanoskaligen Eigenschaften eines Materials ermöglicht. Es ist auch mit einem digitalen Signalprozessor ausgestattet, der bei der schnellen Aufzeichnung und Verarbeitung von Bildern hilft. In Bezug auf die Genauigkeit hat dieses SEM ein automatisiertes Festkörper-Drift-Korrektursystem, das hilft, die Position der Probe Dentrogrid bei verschiedenen Vergrößerungen genau zu halten; dies hilft, die Positioniergenauigkeit für die Bildgebung zu erhalten und erhöht die Geschwindigkeit der Probenanalyse. Das Gerät verfügt über eine Lastschloßkammer, die mit einer automatisierten Austauschstation gekoppelt ist und dem Benutzer eine Vielzahl von Möglichkeiten für die Handhabung und Analyse von Proben bietet. Dazu gehören Dinge wie Probenauswahl, Reinigung und Vorbereitung. Die Probenkammer kann gekühlt oder erwärmt werden, um sicherzustellen, dass die Probe während der Betrachtung immer innerhalb der optimalen Betriebsparameter gehalten wird. Inspect-F enthält eine Vielzahl von erweiterten Bildgebungsoptionen wie automatische Merkmalserkennung, Bildnähte, 3D-Bilder und mehr. Dadurch wird ein detaillierteres Verständnis der zu analysierenden Probe ermöglicht. Zu Forschungszwecken umfasst FEI Inspect-F eine breite Palette von Analysewerkzeugen wie Elektronenstrahlen, Elektronendetektoren, Signalverarbeitungssystemen, Bildverarbeitungssoftware und mehr. Mit diesen können Benutzer selbst die kleinsten Details der Eigenschaften eines Exemplars abbilden. Inspect-F ist ein fortschrittliches und leistungsstarkes Werkzeug, das eine gründliche Analyse und Untersuchung aller Proben ermöglicht. Dieses Rasterelektronenmikroskop verfügt über eine Vielzahl fortschrittlicher Funktionen und bildgebende Werkzeuge, die die Genauigkeit der erhaltenen Daten und die Geschwindigkeit der Probenanalyse erhöhen. Seine Eigenschaften, kombiniert mit seiner außergewöhnlichen Auflösung von bis zu 1 nm, machen dieses Instrument zu einem Muss für jeden Forscher, der die komplizierten Details von Materialien und Geräten erforschen möchte.