Gebraucht FEI Inspect F50 #9224409 zu verkaufen

FEI Inspect F50 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur zerstörungsfreien Analyse von Materialien. Es bietet eine Reihe von Funktionen, um die hochwertigste Bildgebungstechnologie bereitzustellen, einschließlich fortschrittlicher Konstruktion und Engineering für einen höheren Probendurchsatz, ausgezeichnete Auflösung und Genauigkeit. Inspect F50 ist mit einem In-Column-Energiefilter-Detektor ausgestattet, der die Auflösung verbessern und eine genauere Abbildung von feinen Strukturen in Proben ermöglichen kann. Darüber hinaus ist der In-Column-Detektor einstellbar, um die ideale Balance zwischen Kontrast und Gesamtansicht zu bieten. Dadurch wird sichergestellt, dass Bediener einen optimalen Kontrast und eine optimale Bildqualität erzielen können, was insbesondere für die Betrachtung dünner Materialschichten nützlich ist. Der In-Column-Energiefilterdetektor reduziert auch die gesamte ionisierende Dosis (TID), die von Proben erhalten wird, und ist somit ideal für schadensempfindliches Material. FEI Inspect F50 verfügt auch über eine Vielzahl fortschrittlicher Bildgebungsoptionen, einschließlich rückgestreuter Elektronen (BSE) -Bildgebung, Bildgebung mit variablem Druck und EBSD-Bildgebung (Electron Backscatter Diffraction). Der rückgestreute Elektronenmodus des SEM ermöglicht es Operatoren, die elementare Zusammensetzung und den chemischen Zustand von Proben zu erkennen. Variable Druckbildgebung bietet eine qualitativ hochwertigere Bildgebung im Niedervakuum und ist somit ideal für Anwendungen mit chemischen Veränderungen, wie Korrosionsabbildung und Abbildung von hydratisierten Proben. Schließlich kann mit EBSD-Bildgebung die kristallographische Struktur von Proben analysiert werden, was einen wichtigen Einblick in deren Eigenschaften und Verhalten bietet. Inspect F50 verfügt auch über eine Reihe benutzerfreundlicher Funktionen, um die Probenvorbereitung, Bildgebung und Analyse einfach und einfach zu gestalten. Zum Beispiel bietet der Bühnenmotor eine breite Palette von Reisen mit XYZ- und Theta-Steuerung, so dass Benutzer ihre Proben schnell und genau in Position für die Bildgebung bewegen können. Darüber hinaus bietet die Bedienerkonsole einfachen Zugriff auf alle Mikroskopfunktionen und Einstellungen, so dass Experten und Neulinge gleichermaßen die Fähigkeiten des SEM nutzen können. Insgesamt ist FEI Inspect F50 ein ausgezeichnetes SEM für die Materialforschung und -analyse. Seine Kombination aus fortschrittlichen bildgebenden Funktionen und einem intuitiven Betriebssystem machen es zu einer idealen Wahl für Forschungslabore und Industrie gleichermaßen.