Gebraucht FEI Inspect S50 #293624510 zu verkaufen

FEI Inspect S50 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Forschung und Materialanalyse. Dieses hochauflösende SEM ermöglicht eine schnelle und präzise Bildgebung über weite Bereiche mit einer Vergrößerung bis zu 500.000x. Inspect S50 verfügt über einen spezifischen digitalen Detektor für die topographische Bildgebung auf organischen und anorganischen Materialien. Seine digitale Phasenkontrast-Bildgebungstechnik ermöglicht es Anwendern, verschiedene Entwicklungsstufen in biologischen Systemen von Zellwänden bis hin zu bestimmten Biomolekülen zu inspizieren. Die digitale Regelungstechnik ermöglicht präzises Scannen mit langer Lebensdauer und schneller Datenerfassung, wodurch kontrastreiche Bildgebung entsteht. Die integrierten CCD-Kamera- und Bildcontroller verfügen über erweiterte Bildverarbeitungs- und On-the-Fly-Filterfunktionen. Diese bildgebenden Funktionen, gepaart mit einer intuitiven Benutzeroberfläche, ermöglichen es Bedienern mit eingeschränkter SEM-Erfahrung, zuverlässige, wiederholbare Ergebnisse zu erzielen. FEI Inspect S50 bietet auch eine Reihe fortschrittlicher Automatisierungsoptionen wie automatisiertes Schnellscannen über große Sichtfelder, automatisierte Bildnähte und automatisierte Datenanalysen. Das On-Board Pre-Scan chromatische und Orientierung Korrektur-System minimiert nachgeschaltete Analysezeit und verbessert den Durchsatz. Inspect S50 ist auch mit einer Umweltkammer ausgestattet. Dies ermöglicht es Benutzern, die Bildgebung und Messung ungedeckter Proben in einer kontrollierten Umgebung durchzuführen. Eigenschaften wie integrierte Heizung und Kühlung, automatisierte Gasflusssteuerung und Überwachung der Probenumgebung ermöglichen es, auch für empfindlichste Proben präzise Umgebungsbedingungen aufrechtzuerhalten. Zusammenfassend ist FEI Inspect S50 ein hochauflösendes SEM, das erweiterte Bildgebungs- und Automatisierungsfunktionen für zuverlässige, wiederholbare Ergebnisse bietet. Es ist in der Lage, topographische Bilder bei Vergrößerungen bis zu 500.000x zu erzeugen, und seine Umweltkammer ermöglicht es ihm, Bildgebung und Messung von ungedeckten Proben in einer kontrollierten Umgebung bereitzustellen. Dieses System eignet sich gut für jede Materialanalyse und Forschungsanwendung.