Gebraucht FEI Inspect S50 #9150862 zu verkaufen

FEI Inspect S50 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer einzigartigen Kombination aus bildgebender, analytischer und schneller 3D-Tomographie. Der S50 hat eine Auflösung von 0,8 nm, so dass er Bilder mit außergewöhnlichen Details erzeugen kann. Es verfügt auch über eine große 300mm Arbeitsabstand, so dass Benutzer Probe Bilder bis zu 120x160mm in der Größe schnell und einfach zu produzieren. Inspect S50 verfügt auch über einen zusätzlichen Elektronendetektor, mit dem Benutzer die Dicke und Zusammensetzung der Proben messen können, ohne sie zu beschädigen. Dies wird durch den EBSD-Detektor (Electron Backscatter Diffraction) erreicht. Der EBSD-Detektor kann auch zur Messung von Spannung und Belastung in Proben in situ verwendet werden. Die S50 bietet auch eine Reihe von anderen Funktionen. Es hat die Fähigkeit, dünne Schichten im Nanometerbereich zu messen. Dies wird durch das Mikrostrahlsystem ermöglicht, das eine wiederholbare Datenerfassung mit bis zu 4KV Beschleunigungsspannung ermöglicht. Das S50 verfügt außerdem über ein integriertes Spektrometer, mit dem Benutzer Röntgenstrahlung oder rückgestreute Spektren messen können, um die Materialzusammensetzung genau zu bestimmen. Darüber hinaus ist die S50 in der Lage, fortschrittliche 3D-Tomographie. Mit bis zu 43nm dreidimensionaler Auflösung können Anwender Rekonstruktionen von Minutenstrukturen mit beispiellosen Details erzeugen. Das S50 bietet auch erweiterte Bildgebungsfunktionen wie automatisches Nähen, mit denen Benutzer Bilder zusammenfügen können, um ein größeres Bild mit mehr Bilddetails zu erzeugen. Insgesamt ist FEI Inspect S50 ein hervorragendes Rasterelektronenmikroskop für bildgebende, analytische und 3D-tomographische Aufgaben. Mit seiner außergewöhnlichen Auflösung, dem großen Arbeitsabstand, einer breiten Palette von Detektoren und erweiterten bildgebenden Funktionen ist das S50 in der Lage, detaillierte und genaue Bilder von Proben verschiedener Größen und Materialien zu erzeugen.