Gebraucht FEI Inspect S50 #9159235 zu verkaufen

FEI Inspect S50 ist ein vielseitiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop (SEM). Dieses Vergrößerungsmikroskop hat einen Vergrößerungsbereich bis zu fünfzigtausend Mal, so dass es ideal für Anwendungen, die überlegene Details erfordern. Es ist in der Lage, Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen und Durchleuchtungsdetektorsysteme zu verwenden, um die gewünschte Probe zu beobachten. Das Gerät verwendet einen einzigartigen In-Objektiv-Detektor-Prozess, um die Genauigkeit zu maximieren und klare Bilder der Probe zu erstellen. Als zusätzlichen Vorteil minimiert dieser Detektor Matrixstörungen und eliminiert Verzerrungen, was zu überlegenen Bildern im Vergleich zu anderen SEMs führt. Inspect S50 bietet eine breite Palette benutzerfreundlicher Funktionen, die es zu einer idealen Wahl für diejenigen machen, die ein präzises und effizientes Rasterelektronenmikroskop benötigen. Das System umfasst einen digitalen Röntgendetektor, eine automatische Driftkorrektureinheit und schnelle Scanfunktionen, die die Bedienung vereinfachen und eine effiziente Probenbildgebung ermöglichen. Neben seinen umfassenden Scanfunktionen bietet FEI Inspect S50 auch mehrere Peripheriesysteme zur weiteren Analyse an. Dazu gehören eine kryogene Maschine zur verbesserten Temperaturregulierung sowie ein Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) für spezialisierte Analysen, wie z.B. Ultra-Low Vacuum Imaging. Weitere Funktionen sind vollautomatische Kalibrierung, fortschrittliche Scantechniken, Dual-Detektor-Design für überlegene analytische Fähigkeit und eine große Sammlung von Zubehör. Inspect S50 bietet Hochleistungs-Bildgebungsfähigkeit und eine Vielzahl von Funktionen, so dass es das ideale Werkzeug für Proben, die hohe Auflösung und Detail. Das einfach zu bedienende Design und die umfangreichen Peripheriesysteme machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Spezialanwendungen.