Gebraucht FEI Nova NanoSEM 230 #293695404 zu verkaufen
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ID: 293695404
Scanning Electron Microscope (SEM)
STEM
Type: FEG
Helix detector
VCD Detector
LVD Detector
BSED Detector
GAD Detector
Manual control panel
LowVac mode
Immersion ultra high resolution mode
Cryo pump
Dry scroll pump
Chiller
Air compressor.
FEI Nova NanoSEM 230 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für den Einsatz in Forschungslabors und Produktionsstätten. Dieses fortschrittliche SEM bietet überlegene Bildgebungsfunktionen bei geringerem Platzbedarf als andere Modelle. Nova NanoSEM 230 ist in der Lage, atomare Auflösung Bildgebung zu erreichen, wenn sie mit den richtigen bildgebenden Bedingungen gepaart. Dies macht es ideal für Wissenschaftler und Ingenieure, die einzelne Atome und Moleküle im Rahmen ihrer Forschungs- oder Entwicklungsarbeit visualisieren müssen. FEI NanoSEM 230 verwendet eine Vielzahl innovativer Technologien, um überlegene Bildqualität und Auflösung zu bieten. Es ist mit einem elektro-optisch fokussierten Elektronenstrahl-Instrument ausgestattet, das die Abbildung von Proben mit Nanometer-Auflösung ermöglicht. Diese Funktion macht FEI zu einer idealen Wahl zur Visualisierung der atomaren Struktur einer Probe sowie zur Beobachtung der feineren Details einer Probe bei hohen Vergrößerungsgraden. Neben dem Electron Beam Instrument enthält FEI Nova NanoSEM 230 drei weitere Komponenten, die als Filament Control Equipment, Guns and Gun Control System und Detector bekannt sind. Die Filament Control Unit besteht aus einer stromstarken Filamentversorgung, Elektronenkanonen und Ablenkern, die zur Steuerung der Strahldivergenz und der Punktgröße verwendet werden. Die Guns and Gun Control Machine sorgt dafür, dass der Elektronenstrahl während der Bildgebung seine fokussierte Form behält. Der Detektor ist ein Röntgendetektor, der Informationen über die elementare Zusammensetzung und chemische Struktur einer Probe liefert. FEI NanoSEM 230 kann eine breite Palette von Materialien wie Metalle, Kunststoffe, Verbundstoffe, Dielektrika, Halbleiter und organische Materialien abbilden. Es bietet auch verschiedene Abbildungsmodi wie Backscatter-Bildgebung, Energiedispersive Spektroskopie (EDS), flache Tiefenprofilierung (SDP) und kryogene Bildgebung für die Erkundung von kälteren Proben. Insgesamt ist Nova NanoSEM 230 ein modernes SEM, das Wissenschaftlern hochauflösende bildgebende Funktionen und eine Vielzahl von bildgebenden Modi bietet. Es kann verwendet werden, um eine breite Palette von Materialien abzubilden und hat die Fähigkeit, atomare Auflösung Bildgebung zu erreichen, wenn mit den richtigen Bedingungen gepaart. Diese Kombination macht FEI NanoSEM 230 zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Forschung und Entwicklung auf hohem Niveau im Bereich der Rasterelektronenmikroskopie.
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