Gebraucht FEI Nova NanoSEM 230 #9150375 zu verkaufen

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ID: 9150375
Weinlese: 2010
Scanning electron microscope (SEM) Retractable low-kV high-contrast detector Through lens detector Backscatter detector SED Auto stage Chamber CCD Ion coater Dry scroll pump UPS System 6-Channel detector amplifier (20) Specimen stubs for SEMs Thermal printer kit LCD Monitor, 19" Manual user interface Acoustic enclosure for pre-vacuum pump 5-Axes motorized stage (field upgrade) Optic Gun: SE-cathode electron gun Pump: (2) Ion pumps Aperture: Multiple hole aperture Detector: SED GBSD BSD RBSD CCD: IR CCD Camera Chamber Stage: X, Y, Z, R Axis motor drive Tilt: Manual Chamber: Std XL 30 chamber Pump: Turbo pump Air anti vibration system Control system PC: Microscope control PC (HP XW4800T) Support PC (HP XW4800T) LCD, 19" ETC: Microscope control PAD for FEI Keyboard Mouse Switching box for Keyboard and Mouse MITSUBISHI Video printer - P93D Power rack PCB: 30KV HT unit Pump: EDWARDS XDS10 scroll pump Diaphragm pump: SINKU KIKO DA-60D 2010 vintage.
FEI Nova NanoSEM 230 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das entwickelt wurde, um hochauflösende Bilder von Materialien bis zu einem nanoskaligen Niveau zu erzeugen. Dieses ultrahochauflösende Instrument verwendet Elektronenstrahlen, um detaillierte Bilder von Proben zu scannen und zu erzeugen, was es zu einem leistungsstarken Werkzeug für die Analyse und Beobachtung einer Vielzahl von Materialien und Nanostrukturen macht. Die NanoSEM 230 bietet eine Reihe von Elektronenstrahlenergien im Bereich von 2 keV bis 30 keV, wobei die Größe des Strahlflecks bei 40 kV noch kleiner als 10 nm ist. Diese Auflösung eignet sich zur Charakterisierung kleiner Strukturen und Nanomaterialien. Das System ist mit einem Satz hochmoderner Detektoren ausgestattet, die eine gleichzeitige Detektion von Sekundärelektronen, rückgestreuten Elektronen und Sendeelektronen ermöglichen. Dadurch kann der Benutzer die Probe aus vielen verschiedenen Richtungen betrachten und ein deutlich klareres Bild erstellen. Die hochauflösenden Bilder von Nova NanoSEM 230 sind für viele Anwendungen nützlich, wie die Abbildung von magnetischen Strukturen, die Untersuchung der Leitfähigkeit in Nanodrähten, die Messung elektrischer Eigenschaften von dünnen Filmen, die Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen und die Betrachtung der Struktur amorpher Materialien. Der Elektronenstrahl kann auch zur Bildgebung, Ätzung und Abscheidung verwendet werden. Zusätzlich ermöglicht die Doppelstrahlanlage eine dreidimensionale Abbildung der Probe. Das Gerät ist mit einem automatischen Temperatur- und Feuchtigkeitskontrollsystem und einer Turbopumpe ausgestattet, um den Betriebskammerdruck zu reduzieren und die Auswirkungen von Gasmolekülen zwischen Probe und Elektronendetektor zu minimieren. Der NanoSEM 230 wird von einer Windows 10 Touchscreen-Benutzeroberfläche bedient, so dass der Benutzer das Instrument leicht steuern und auf gespeicherte Daten zugreifen kann. FEI Nova NanoSEM 230 ist ein leistungsstarkes Rasterelektroneninstrument, das sich ideal für die Analyse von Nanomaterialien und die Abbildung von Nanostrukturen eignet. Mit seinen ultrahochauflösenden Funktionen, modernsten Detektoren und einer breiten Palette von Strahlenergien bietet der NanoSEM 230 unschätzbare Bilder von Materialien auf der Nanoskala.
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