Gebraucht FEI Nova NanoSEM 230 #9397633 zu verkaufen

FEI Nova NanoSEM 230 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Basierend auf den genialen Konstruktionsprinzipien der FEI Field Emission Electron Optics bietet das NanoSEM verbesserte Leistungsstufen für Bildgebung, Analyse und Mikroskopie in nanotechnologiebezogenen Bereichen. In Bezug auf Hardware ist Nova NanoSEM 230 in der Lage, eine Vergrößerung von 1kx bis 300kx bereitzustellen, und nutzt eine Startleistung von 0.5-30kV.The großen Dynamikbereich des bildgebenden Systems, um komplizierte Oberflächenmerkmale leicht zu unterscheiden und gleichzeitig die Untersuchung größerer Merkmale wie Nanopartikel zu ermöglichen. Aufgrund der variablen Beschleunigungsspannung und der sphärischen Aberrationskorrekturfunktionalität ist das System in der Lage, schnelle, detaillierte Bilder von kleinteiligen Merkmalen in einer spezifischen Ausrichtung bereitzustellen, um den Bedienern einen umfassenden Überblick über ihre Probe zu bieten. Unter Verwendung von Sekundärelektronen und rückgestreuten Elektronen bietet das NanoSEM vier Detektionsmodi an, wodurch eine Vielzahl von analytischen Aufgaben durchgeführt werden können. Die bildgebenden Fähigkeiten des Geräts werden durch seinen Drift Correction Algorithm (DCA) weiter verbessert, der alle Auslenkungen in der Proben-Positionierung des SEM während der Bildgebung automatisch korrigiert, um stabile Ergebnisse zu gewährleisten. Darüber hinaus minimiert NanoSEMs erweiterte Funktion zur Fehlausrichtung von Detektoren Unschärfen und Verzerrungen in Bildern für eine genaue Bildgebung auch bei höheren Vergrößerungen. Das SEM ist benutzerfreundlich gestaltet, mit intuitiver Touchscreen-Bedienung. Die Steuerung erfolgt durch die Software FEI FEGSEM v2, die SEM-automatisierten Betrieb mit leistungsstarken Bildgebungs- und Analysefunktionen integriert. Insgesamt ist FEI Nova NanoSEM 230 eine ausgezeichnete Wahl für Experten auf dem Gebiet der Nanotechnologie und bietet eine Kombination aus hoher Leistung, Auflösung und Genauigkeit, mit der kein anderes System übereinstimmen kann. Als solches bietet es eine robuste Plattform, um komplexe Materialproben im nanometrischen Maßstab zu betrachten, zu analysieren und zu interpretieren.