Gebraucht FEI Nova NanoSEM 400 #9282097 zu verkaufen

FEI Nova NanoSEM 400 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist eines der fortschrittlichsten Instrumente seiner Klasse und bietet nanoskalige Auflösung Bildgebung von Materialien für Qualitätskontrolle und Forschungszwecke. Dieses SEM verwendet einen hochauflösenden Elektronendetektor, der hochauflösende Bilder von Proben in einer Vielzahl von Materialien erfasst, darunter Metalle, Polymere, Verbundstoffe, Holzverbunde und Halbleiter. Die erhaltenen Bilder sind bis zu zehnmal heller als herkömmliche bildgebende Verfahren und können Proben bis zu dem 400.000-fachen ihrer ursprünglichen Größe vergrößern. Nova NanoSEM 400 verfügt über eine breite Palette von Funktionen, die es ermöglichen, qualitativ hochwertige Bilder zu liefern. Das hochterminolekulare Objektiv bietet eine hervorragende Bildqualität über eine breite Palette von Vergrößerungen. Seine schwingungsarme motorisierte Stufe ermöglicht es Benutzern, schnelle und genaue Bewegungen zu machen, um Messungen genau durchzuführen oder Funktionen in einer Probe abzubilden. Darüber hinaus ermöglicht die FEI Nova NanoSEM 400 eine einfache Navigation durch detaillierte Probenbilder durch ihre automatisierte Navigationsfunktion, die den Elektronenstrahl in wenigen Sekunden automatisch über die gesamte Probe führt. Dieses Rasterelektronenmikroskop ist auch mit einem energiedispersiven Röntgendetektor ausgestattet, der die Analyse der elementaren Zusammensetzung innerhalb der Probe ermöglicht. Dieses System eignet sich ideal zur Analyse der Segregation von Legierungen und der Konzentration bestimmter Elemente sowie zur Messung des Verhältnisses verschiedener Elemente in der Probe. Darüber hinaus umfasst das NanoSEM 400 ein hyperspektrales Bildgebungssystem, mit dem Forscher eine Vielzahl von Bildern aus mehreren Wellenlängen gleichzeitig erfassen und eine ganzheitliche Sicht auf die Probe erhalten können. Nova NanoSEM 400 bietet eine vielseitige Probenanalyse. Es ist in der Lage, 2D- und 3D-Bilder mit Auflösungen bis zu 4 nm zu produzieren. Es eignet sich auch zur Abbildung von nichtleitenden Materialien wie biologischen Proben, geologischen Proben und Mineralien. Es kann sogar verwendet werden, um die Verformung von Materialien zu messen, wie Keimbildung und Wachstum von neuen Merkmalen durch mechanische Beanspruchung. Insgesamt ist die FEI Nova NanoSEM 400 ein äußerst leistungsfähiges und präzises Werkzeug, das eine Leistung bietet, die weit über die herkömmlicher Bildgebungstechniken hinausgeht. Es ist perfekt für eine Vielzahl von automatisierten Analyse- und Inspektionsanwendungen in Forschungs- und Qualitätskontrolleinstellungen.