Gebraucht FEI Nova NanoSEM 450 #293809852 zu verkaufen
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ID: 293809852
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution:
High vacuum imaging, optimum WD
0.8 nm at 30 kV (STEM)
1.0 nm at 15 kV (TLD-SE)
1.4 nm at 1 kV (TLD-SE) without beam deceleration
3.5 nm at 100 V (DBS)
High vacuum analysis, analytical WD
3.0 nm at 15 kV and 5 nA (TLD-SE)
Low vacuum imaging, optimum WD
1.5 nm at 10 kV (Helix detector)
1.8 nm at 3 kV (Helix detector)
Detectors:
In-lens SE Detector (TLD-SE)
In-lens BSE Detector (TLD-BSE)
Everhardt-Thornley SED
Low vacuum SED (LVD)
IR-CCD
High sensitivity low kV Directional Backscattered Detector (DBS), Lens-mount
TV-Rate low vacuum solid-state BSED (GAD)
Stage:
Type: Eucentric goniometer stage, 5-axes motorised
XY: 110x110mm DC motors
Repeatability inf 2.0 µm (at0° tilt)
Z: 25 mm
R: nx360°
Tilt: -15°/+75°
Analytical working distance: 5 mm
Accessories:
GIS Carbon
GIS Platinum
Plasma cleaner
PC Support
User manual interface.
FEI Nova NanoSEM 450 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von Mikro- und Nanoskalen verwendet wird. Dieses hochmoderne Gerät verfügt über eine supraleitungsgekühlte Feldemissionselektronenkanone, einen Hochgeschwindigkeitsabweiser und einen Ultrahochauflösungsdetektor für unübertroffene Bildgebungsleistung. Die Technologie nutzt eine Ultrahochvakuum-Ausrüstung, um einen größeren Raum zwischen den Spalten mit Elektronen zu füllen, was zu höherer Auflösung und verbesserter Bildqualität führt. Dies hilft, Bildunschärfen zu reduzieren und Rauschen in den Bildergebnissen zu löschen. Außerdem wird die niedrige Elektronenstrahlenergie schnell abgeführt, bevor sie die Probe schädigen kann. Die hohe Helligkeit der Quelle und die geringe Spotgröße ermöglichen eine Auflösung von bis zu 1 nm, was bedeutet, dass kleinere Bereiche einer Probe zu sehen sind. Mit einer größeren Auflösung als jemals zuvor kann Nova NanoSEM 450 mehr Details in einer Probe als je zuvor erkennen. Die benutzerfreundliche Oberfläche der SE mit dem neuesten Windows-Betriebssystem macht die Datenverarbeitung schnell und effizient. Alle Komponenten im Gerät sind integriert, so dass Benutzer schnell Anpassungen an ihren Einstellungen und Werkzeugen vornehmen können. Die Detektormaschine auf FEI Nova NanoSEM 450 bietet ein verbessertes intellektuelles Bildgebungswerkzeug für detaillierte Analysen. Dadurch können mehrere Signale gesammelt werden, darunter sekundäre und rückgestreute Elektronen sowie andere Signale. Das Detektor-Asset eliminiert auch die meisten Signale, die den Bildgebungsprozess stören können. Viele weitere Merkmale wie automatisierte Probenstufe, motorisierte Objektivbewegung, automatisierte Kalibrierungsverfahren, Probenheizung und -kühlung und integrierte E-Beam-Schreibfähigkeit gehen Hand in Hand mit Nova NanoSEM 450, um die hochwertigste Datensammlung für ein Rasterelektronenmikroskop zu bieten. Mit seiner intuitiven Software und der überlegenen Bildauflösung ist FEI NanoSEM 450 eines der besten heute verfügbaren Rasterelektronenmikroskope.
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