Gebraucht FEI Nova NanoSEM 450 #9070198 zu verkaufen

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ID: 9070198
FE-SEM Manual user interface Support computer Helix detector Retractable STEM detector (STEMIII) DBS detector retractable GAD low-kV SSBSED 6-Channel detector amplifier Quick loader STEM III quickloader adaption; pre-tilted holder Plasma cleaner CryCleaner EC Nav-Cam SIS Scandium imagine software (4) SIS Scandium desktop license SIS Scandium solution height Network dongle licences 50 Correlative navigation 4" Wafer holder 6" Wafer holder BON UMB Specimen holder kit Acoustic enclosure for prevacuum pump 50-pin electrical feedthrough 7-pin Coax electrical feedthrough TEAM integration kit (4) Thermoflex Chiller, 50Hz.
FEI Nova NanoSEM 450 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von Mikro- und Nanoskalen verwendet wird. Dieses hochmoderne Gerät verfügt über eine supraleitungsgekühlte Feldemissionselektronenkanone, einen Hochgeschwindigkeitsabweiser und einen Ultrahochauflösungsdetektor für unübertroffene Bildgebungsleistung. Die Technologie nutzt eine Ultrahochvakuum-Ausrüstung, um einen größeren Raum zwischen den Spalten mit Elektronen zu füllen, was zu höherer Auflösung und verbesserter Bildqualität führt. Dies hilft, Bildunschärfen zu reduzieren und Rauschen in den Bildergebnissen zu löschen. Außerdem wird die niedrige Elektronenstrahlenergie schnell abgeführt, bevor sie die Probe schädigen kann. Die hohe Helligkeit der Quelle und die geringe Spotgröße ermöglichen eine Auflösung von bis zu 1 nm, was bedeutet, dass kleinere Bereiche einer Probe zu sehen sind. Mit einer größeren Auflösung als jemals zuvor kann Nova NanoSEM 450 mehr Details in einer Probe als je zuvor erkennen. Die benutzerfreundliche Oberfläche der SE mit dem neuesten Windows-Betriebssystem macht die Datenverarbeitung schnell und effizient. Alle Komponenten im Gerät sind integriert, so dass Benutzer schnell Anpassungen an ihren Einstellungen und Werkzeugen vornehmen können. Die Detektormaschine auf FEI Nova NanoSEM 450 bietet ein verbessertes intellektuelles Bildgebungswerkzeug für detaillierte Analysen. Dadurch können mehrere Signale gesammelt werden, darunter sekundäre und rückgestreute Elektronen sowie andere Signale. Das Detektor-Asset eliminiert auch die meisten Signale, die den Bildgebungsprozess stören können. Viele weitere Merkmale wie automatisierte Probenstufe, motorisierte Objektivbewegung, automatisierte Kalibrierungsverfahren, Probenheizung und -kühlung und integrierte E-Beam-Schreibfähigkeit gehen Hand in Hand mit Nova NanoSEM 450, um die hochwertigste Datensammlung für ein Rasterelektronenmikroskop zu bieten. Mit seiner intuitiven Software und der überlegenen Bildauflösung ist FEI NanoSEM 450 eines der besten heute verfügbaren Rasterelektronenmikroskope.
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