Gebraucht FEI Quanta 200 FEG #293601213 zu verkaufen

FEI Quanta 200 FEG ist eine Art Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Abbildung von Oberflächenmerkmalen bei sehr hohen Vergrößerungen und mit einer niedrigen Strahlspannung entwickelt wurde. Es verwendet einen Wolframfaden als Quelle für Elektronenstrahlen, die in einem Rastermuster über die Oberfläche der Probe abgetastet werden. Das Hauptmerkmal dieses SEM ist seine Feldemissionskanone (FEG). Die FEG besteht aus einer kaltleitenden Kathode, typischerweise aus Wolfram, mit mehreren fein miteinander verbundenen Spitzen, die eng beabstandet sind. Diese FEG ist in der Lage, einen extrem hellen und hochfokussierten Elektronenstrahl zu erzeugen, der eine wesentlich höhere Auflösung aufweist als herkömmlichere thermische Elektronenquellen. Quanta 200 FEG hat zwei Abschnitte, die unabhängig voneinander betrieben werden können; das Tieflastmodul und das Hochspannungsmodul. Das Low Load Modul wird für große oder niederauflösende Proben verwendet, während das High Voltage Modul für höherauflösende Proben einschließlich Proben aus hochkontrastreichen Materialien verwendet wird. Darüber hinaus verfügt dieses SEM über ein einzigartiges Vakuumsystem, das die Probenkammerumgebung während der Langzeitbeobachtung für mehrere Stunden oder Tage stabil hält. Die Feldemissionskanone bietet eine ausgezeichnete Flussauflösung, die durch die Fähigkeit ermöglicht wird, mit einer niedrigeren Beschleunigungsspannung zu arbeiten als herkömmliche thermische Elektronenkanonen. Dies ermöglicht eine dynamische Bildgebung und bietet eine dreidimensionale Ansicht der Probe. Automatisierte Funktionen wie Auto-Kontur und Auto-Verweilzeit ermöglichen eine effiziente Abbildung kontrastreicher Proben. FEI Quanta 200 FEG hat auch eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten wie Energie-dispersive Spektroskopie (EDS), spektrale Bildgebung und Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD). Zusätzlich zu seinen erweiterten bildgebenden Fähigkeiten bietet Quanta 200 FEG dem Anwender die Möglichkeit, die Probenbewegung zu steuern und mehrere Proben innerhalb derselben Probenkammer zu verwalten. Dies ermöglicht eine breite Palette von Probenvorbereitungen, wie Dünnschichtwachstum, Sputterbeschichtung und Ionenstrahlpolieren. Der Anwender kann auch die Vorteile der fortschrittlichen Automatisierungswerkzeuge wie Umweltkontrolle und Probenmanipulationsstufen nutzen, die einen höheren Durchsatz und eine einfache Bedienung ermöglichen. Insgesamt ist FEI Quanta 200 FEG ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende Bildgebung und ausgezeichnete Analysefähigkeit bietet. Sie eignet sich besonders gut für Anwendungen wie Fehleranalyse, Dünnschichtanalyse und nanoskalige Forschung. Darüber hinaus ermöglichen das einzigartige Vakuumsystem und die automatisierten Funktionen eine hocheffiziente Probenvorbereitung, Bildgebung und Analyse.