Gebraucht FEI Quanta Inspect #9172399 zu verkaufen

FEI Quanta Inspect ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene Forschung und analytische Laborexperimente. Es eignet sich hervorragend für die Inspektion und Analyse einer Vielzahl von Materialien, darunter Halbleiter, Verbundwerkstoffe, Metalle, Keramik, Polymere, magnetische Materialien und dünne Folien. Quanta Inspect SEM verwendet eine hochmoderne Elektronensäule, die dem Instrument eine hervorragende Leistung und Auflösung verleiht. Es umfasst die neuesten Funktionen in der Bildverarbeitung und digitalen Signalverarbeitung. Es verfügt über eine erweiterte Liebscher Type Gun (LTG) Elektronenquelle mit Sonden für hochauflösende Bildgebung und rückgestreute Elektronenbildgebung. Darüber hinaus verfügt es über eine intelligente Bildgebungs- und Analyseplattform, die über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, automatisierte Pegel und Messabstände, Bildnähte sowie eine breite Palette von Werkzeugen zur Messung kritischer Strukturen verfügt. FEI Quanta Inspect ist in der Lage, qualitativ hochwertige Bilder mit einer seitlichen Auflösung von 1,4 nm und einem Dynamikbereich von 14 Bit bereitzustellen. Es verfügt auch über ein variables Druck-Rasterelektronenmikroskop (VP-SEM), das eine überlegene Bildgebung in einer Reihe von Arbeitsbedingungen gewährleistet. Das VP-SEM ändert die Geschwindigkeit des Hochspannungsbeschleunigers, um die optimalen Vakuumbedingungen für die Bildgebung und Analyse aufrechtzuerhalten. Auf der Beispielbühne bietet Quanta Inspect eine Reihe von Optionen für Anwendungen an, darunter ein motorisiertes Positioniersystem, eine Neigungsstufe zum Betrachten dynamischer Objekte, ein Autofokus-System, Beispielnavigationsmöglichkeiten und einen programmierbaren Scangeschwindigkeitsbereich. FEI Quanta Inspect verwendet eine Vielzahl von Detektoren, um Anwendern die Flexibilität zu geben, die anspruchsvollsten analytischen Anforderungen zu bewältigen. Sein Multicloud-Detektor kann für die Bilderzeugung mit niedrigem und hohem Energieverbrauch verwendet werden. Der EBSD-Detektor (Electron Backscatter Diffraction) gibt Forschern die Klarheit, die sie benötigen, um nanoskalige Merkmale auf einer Vielzahl von Materialien zu untersuchen. Es kann auch die elementare Zusammensetzung sowohl in dünnen als auch in großen Proben nachweisen und analysieren. Quanta Inspect ist eine All-in-One-SEM-Lösung, die erweiterte Funktionen wie automatisiertes Mapping, Array-Messungen, automatisierte Datenerfassung und Reporting bietet. Es ist ein ideales Werkzeug für eine breite Palette von Forschung und industriellen Anwendungen.