Gebraucht FEI Strata FIB 205 #9233566 zu verkaufen

FEI Strata FIB 205 ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für Forscher und Wissenschaftler entwickelt wurde, die erweiterte Bildgebungs- und Kartierungsfunktionen benötigen. Das Gerät bietet eine Vielzahl nützlicher Funktionen, um eine möglichst auflösende Bildgebung und Analyse zu gewährleisten. Die Strata FIB 205 basiert auf einer Field Emission Gun (FEG) und einer speziell für DualBeam-Workflows entwickelten Quattro-Probenstufe. Die fortschrittliche Optik, Nanostage, überlegene Probenbeleuchtung und eine Vielzahl von Zubehör machen das System zu einem leistungsstarken Werkzeug für die Bildgebung und Datenerfassung. Die Quattro-Stufe ist in der Lage, eine Probe bis zu 9mm Dicke zu tragen und eignet sich besonders gut für die Abbildung von 3D-Nanostrukturen. FEI Strata FIB 205 verfügt über eine hohe Helligkeit FEG, die außergewöhnliche Auflösung und hohe Strahlstromdichte bietet, was zu einer verbesserten Bildgebungsgeschwindigkeit führt. Dieses Gerät verfügt auch über ein großes 6,3 "Sichtfeld, das große Probengrößen mit verbesserter Fokustiefe abbilden kann. Die Schichten FIB 205 umfassen auch eine Vielzahl von Probenhaltern und -stufen, wie die Correlative Mapping Stage, die in der Lage ist, Daten von Sekundärelektronen und rückgestreuten Elektronendetektoren automatisch zu korrelieren. Der SuperDry Probenhalter verbessert die bildgebende Qualität für hydrophile Proben, während der CrystalView Probenhalter für die Abbildung strukturierter Oberflächen in Echtzeit konzipiert ist. FEI Strata FIB 205 ist für die automatisierte Erkennung je nach Aufgabe, sowie einfach zu bedienende automatisierte Mapping-Software und automatisierte Bildverarbeitung für verbesserte Ergebnisse aktiviert. Die Maschine enthält auch fortgeschrittene Bilderfassungswerkzeuge, die in der Lage sind, ultrahochauflösende Daten zu erfassen oder grössere Oberflächenmessungen durchzuführen. Strata FIB 205 bietet hochmoderne Rasterelektronenmikroskopleistung für Forschungs- und Entwicklungsanwendungen. FEI Strata FIB 205 ist eines der leistungsstärksten Rasterelektronenmikroskopsysteme mit fortschrittlichen Bildgebungs- und Kartierungsfunktionen, ausgezeichneter Probenvorbereitung und automatisierten Werkzeugen.