Gebraucht FEI / TECNAI F20 X-TWIN #9151726 zu verkaufen

FEI/TECNAI F20 X-TWIN ist ein Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse. Es hat einen Faktor von 0 .25nm (Nanometer) laterale und 0 .065nm (Nanometer) Tiefenauflösung. Dieses ausgeklügelte Elektronenmikroskop kombiniert SCHOTTKY Field Emission (FE) und Field Emission Transfers (FET) Technologien, um verbesserte Auflösung und Bildkontrast zu bieten. FEI F20 X-TWIN besteht aus einer Mikroskopsäule, die ein Paar Hochspannungsnetzteile und einen Magnetfeldflügel zur Unterstützung der Elektronenoptik enthält. Es ist auch mit einer Probenstufe ausgestattet, die speziell für die Bewegung der Probenoberfläche in alle Richtungen und bei variablen Geschwindigkeiten für eine hochgenaue und präzise Bildgebung ausgelegt ist. TECNAI F20 X-TWIN bietet neben konventionellen SEM-Anwendungen erweiterte Bildgebungsfunktionen wie Röntgen- und Elektronentomographie. Darüber hinaus können Benutzer nicht leitfähige Materialien und Proben abbilden, die ansonsten in SEM nicht mit der FET-Technologie untersucht werden könnten. Es verfügt über einen hochauflösenden CCD-Elektronendetektor und ein integriertes ladungsreduzierendes Vakuumstabilisierungssystem, um Ladungsartefakte effektiv zu reduzieren. Ein wichtiger Aspekt dieses Elektronenmikroskops ist sein EvolutionTM Microscope Control System, das eine benutzerfreundliche Umgebung und umfassende bildgebende Funktionen für mehrere Anwendungen bietet. Es verfügt über zusätzliche Zubehörteile für fortgeschrittenere Analysen wie die energiedispersive Röntgenspektrometrie (EDS), die Energiefilterung (EFS) und die rückgestreute Elektronenbildgebung (BSEI). Darüber hinaus bietet der motorisierte flüssig-stickstoffgekühlte Silizium-Drift-Detektor (SDD) eine breite Palette von Elementaranalysefähigkeiten. Dieses Merkmal eignet sich insbesondere für Materialien, wie sie in der Halbleiterindustrie eingesetzt werden und genaue Messungen von Elementverhältnissen und -mengen erfordern. Insgesamt ist F20 X-TWIN ein hochspezialisiertes Rasterelektronenmikroskop, das für die hochauflösende Bildgebung und Analyse verwendet wird. Es bietet durch seine SCHOTTKY Feldemissions- und Feldemissionstransfertechnologien einen hervorragenden Auflösungs- und Bildkontrast. Das EvolutionTM Microscope Control System ermöglicht eine einfache Bedienung und bietet leistungsstarke bildgebende Funktionen sowie eine Vielzahl von Zubehör für erweiterte Analyseanforderungen. FEI/TECNAI F20 X-TWIN ist damit einer der besten seiner Klasse für fortschrittliche Materialien und Halbleiteranwendungen.