Gebraucht FEI Tecnai G2 F20 Twin #9299394 zu verkaufen

FEI Tecnai G2 F20 Twin ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das ein fortschrittliches Elektronenoptiksystem mit einzigartiger Technik kombiniert, um eine ultrahochauflösende Mikroskopie-Plattform zu schaffen. Durch die Kombination zweier unterschiedlicher Elektronenpistolen mit In-Linsen- und Zwischenlinsendetektoren bietet der F20 Twin eine hervorragende hochauflösende Bildgebungsleistung in einer einzigen SEM-Plattform. Die primäre Quelle des Mikroskops ist eine Feldemissionselektronenkanone (FEG), die eine hervorragende Auflösungsleistung für Linsen, einen rauschfreien Betrieb und ein hervorragendes Signal-Rausch-Verhältnis bietet. Die zweite Pistole ist eine variable Druck/Umwelt FEG, die die Möglichkeit bietet, Bildgebung bei lowkV und in variablen Druckmodi durchzuführen. Beide Kanonen bieten eine beeindruckende maximale Beschleunigungsspannung von 20kV. Der F20 Twin verfügt zudem über eine schnell beschleunigende Spannungsumschalttechnik, die ein schnelles Umschalten von LowkV auf HighkV-Bildgebung ermöglicht. Die bildgebenden Funktionen des F20 Twin werden durch qualitativ hochwertige In-Linsen- und Zwischenlinsendetektoren weiter verbessert. Sein In-Linsen-Detektor bietet eine optimale Bildqualität bei niedrigeren Beschleunigungsspannungen, während sein Zwischenlinsendetektor eine höhere Bildgeschwindigkeit ermöglicht. Dieses duale Detektorsystem wird durch fortschrittliche Scankontrolltechnologie ergänzt, um eine reibungslose und zuverlässige Bildgebungsleistung zu gewährleisten. Zusätzlich zu seinen bildgebenden Fähigkeiten verfügt der F20 Twin über ein automatisiertes Federsystem für den Probentransfer. Diese Funktion gewährleistet eine genaue Probenvorbereitung und beseitigt mögliche Schäden an der Probe während der Übertragung. Darüber hinaus bietet der F20 Twin eine Vielzahl von Vergrößerungsmodi, darunter Standard-SE- und BSE-Bildgebung, automatisierte Querschnitte und integrierte kamerabasierte Tomographie-Bildgebung für maximale Flexibilität. Neben diesen Funktionen bietet der F20 Twin auch fortschrittliche Software zur erstklassigen Bildanalyse. Diese Software bietet dem Anwender leistungsstarke Bildverarbeitungs-, Heft- und Analysetools, um möglichst präzise Probenmessungen zu ermöglichen. Darüber hinaus verfügt der F20 Twin über eine äußerst intuitive benutzerfreundliche Oberfläche, mit der Sie Proben schnell einrichten, bedienen und analysieren können. Tecnai G2 F20 Twin bietet die beste Kombination aus Hardware und Software, um ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop für hochauflösende Bildgebung und leistungsstarke Bildanalyse zu liefern. Mit seiner hervorragenden Objektivauflösungsleistung, Dual-Detektoren, automatisiertem Probentransfer und integrierter Analysesoftware ist der F20 Twin die perfekte Plattform für alle, die hochauflösende Bildgebung für ihre wissenschaftliche Forschung suchen.