Gebraucht FEI TECNAI G2 F20 X-TWIN #293620685 zu verkaufen

ID: 293620685
Weinlese: 2006
Transmission Electron Microscope (TEM). EDAX HAADF Detector 2006 vintage.
FEI TECNAI G2 F20 X-TWIN ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Dieses leistungsstarke Gerät wurde entwickelt, um hochauflösende Bilder von mikroskopischen Proben in einer unglaublichen Vielzahl von Anwendungen wie biologische Forschung, industrielle Inspektion und Nanofabrikation zu erzeugen. Der TECNAI G2 bietet eine Auflösung von bis zu 1,7 nm, die zu den besten seiner Klasse zählt und eine präzise Analyse der Minutenmerkmale ermöglicht. Seine 20kV beschleunigende Spannung sorgt für hochwertige Bildgebung und geringe Probenschäden, während seine patentierte X-Twin-Elektronenoptik ein weites Sichtfeld und einen hohen Bildkontrast bietet. Darüber hinaus ermöglicht seine zweiachsige Synchronisation eine schnelle und genaue Positionierung der Probe in Bezug auf den Strahl. Der TECNAI G2 ist auch mit einer Vielzahl von benutzerfreundlichen Funktionen ausgestattet, einschließlich einfach zu navigierender Software, präziser Automatisierung für Probenmanipulation und intuitiver Bedienung sowohl für routinemäßige Bildgebung als auch für anspruchsvolle Forschungstechniken. Die breite Palette an Zubehör verbessert die Vielseitigkeit des Systems und ermöglicht mehrere Probenhalter für große Proben sowie kryogene und Umweltkammern, die die Abbildung von Proben unter unterschiedlichen Druck- und Temperaturbedingungen ermöglichen. TECNAI G2 F20 X-TWIN ist eine vielseitige, kompakte und zuverlässige Workspace-Lösung. Dieses Mikroskop kombiniert Leistung, Benutzerfreundlichkeit, Ergonomie und Sicherheit und ist eine ideale Wahl für fortgeschrittene mikroskopische Forschung und industrielle Anwendungen. Der TECNAI G2 ist dank seiner außergewöhnlichen Optik, hoher Auflösung und geringem Probenschaden perfekt für jedes Forschungs- oder Inspektionsprojekt geeignet.
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