Gebraucht FEI Tecnai G2 F20 #293618175 zu verkaufen

FEI Tecnai G2 F20 ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM) für den Einsatz in einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen. Es verwendet fokussierte Elektronenstrahlen, um eine hochauflösende Abbildung von Oberflächen oder Querschnitten von Schüttgütern zu erreichen. Dieses SEM ist mit einer FEG-Elektronenquelle (Cold Field Emission Gun) ausgestattet, die eine hervorragende Bildauflösung und überlegene Leistung in anspruchsvollen Anwendungen bietet. Es ist in der Lage, Proben bis zu einer maximalen Fläche von 6,5 cm x 6,5 cm mit einer maximalen Vergrößerung von 300,000X abzubilden. Darüber hinaus verfügt Tecnai G2 F20 über ein integriertes Gaseinspritzproben-Stufensystem (GIS), das es dem Benutzer ermöglicht, gasförmige oder Vakuumkammer-SEM-Operationen mit Präzision durchzuführen. Die Musterbehandlungsmerkmale des FEI Tecnai G2 F20 ermöglichen eine automatisierte, berührungslose Probenbelastung und eine optimierte Vibrationskontrolle. Es hat eine große Probenkammer und kann leicht mit zusätzlichen Probenhaltern für die kundenspezifische Analyse kombiniert werden. Die geschlossene Kammer eliminiert Umgebungskontaminationen und ermöglicht auch die Sammlung von Sekundärelektronen für die Oberflächenspektroskopie. In Bezug auf bildgebende und analytische Fähigkeiten kann Tecnai G2 F20 hochauflösende rückgestreute Elektronen (BSE) und SE2 (sekundäre Elektronen) Bilder sammeln. Es hat variable Scangeschwindigkeit, Bildgrößen und aktuellen Bereich, um eine Vielzahl von Beispielanforderungen zu erfüllen. Mit mehreren vordefinierten Kontrasttechniken wie variablem Druck BSE, monochromatischer Bildgebung und Kantenverbesserung kann der Benutzer den Kontrast und die Sichtbarkeit in verschiedenen Bildtypen verbessern. FEI Tecnai G2 F20 verfügt über eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten. Sein EDS-System wird von einem Oxford Instruments X-MAX 80 Detektor angetrieben und lässt sich problemlos in die SEM-Umgebung integrieren. Es ermöglicht elementare Analyse mit ausgezeichneter Geschwindigkeit, Empfindlichkeit und Auflösung, und der Benutzer kann Bildkorrelation durchführen, um interessante Funktionen zu lokalisieren. Tecnai G2 F20 ist ein fortschrittliches SEM ideal für Forschung und industrielle Anwendungen, die überlegene Bildgebung und analytische Leistung erfordern. Es ist sehr vielseitig und kann eine breite Palette von Proben verarbeiten, so dass eine detaillierte Analyse, Visualisierung und Charakterisierung.