Gebraucht FEI Tecnai G2 F20 #9205902 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9205902
Transmission electron microscope (S/TEM)
Twin LaB6: 200 kV With tomography
Cryostage and elemental mapping (EELS, GIF)
Equipped with:
GATAN 894
Ultrascan 1000 camera (Pixel size: 14 x 14 µm)
GATAN 914 High tilt tomography cryo-holder
GATAN 863 Tridiem imaging filter (GIF)
Maximum resolution: 0.27 nm.
FEI Tecnai G2 F20 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende bildgebende Fähigkeiten und Präzisionsmanipulationen für Forscher in einer Vielzahl von wissenschaftlichen Disziplinen bietet. Tecnai G2 F20 ist in der Lage, kleinste Details in Proben mit einer Auflösung von 1 Nanometer herauszubringen. Sein großes Sichtfeld ermöglicht es Wissenschaftlern, größere Bereiche von Proben zu beobachten, während das schnelle Bilderfassungssystem den bildgebenden Prozess schnell und effizient hält. Das Instrument verfügt über eine Reihe von fortgeschrittenen bildgebenden Techniken, einschließlich Sekundärelektron (SE) und rückgestreute Elektronen (BSE) Bildgebung, sowie Farbe SE und Hellfeld Bildgebung. Das Instrument ist auch mit mehreren Spektroskopie-Modi ausgestattet, wie Röntgen-Energie Dispersive Spektroskopie (EDS) und Wellenlängen Dispersive Spektroskopie (WDS), die wichtige Informationen über die elementare Zusammensetzung einer Probe liefern. Neben seinen hochauflösenden bildgebenden und spektroskopischen Fähigkeiten bietet FEI Tecnai G2 F20 dank seines vollautomatischen Bühnen- und Navigationssystems auch präzise Analysefunktionen. Die Bühne besteht aus einem ergonomisch gestalteten Touchscreen und einem großen Bühnenbewegungsbereich, der es Forschern ermöglicht, beliebige Muster der Wahl leicht zu lokalisieren und zu untersuchen. Das automatische Neigungskompensationssystem sorgt dafür, dass die Probenebene perfekt auf Niveau bleibt, während die eingebauten Objektive es dem Benutzer ermöglichen, höhere Vergrößerungen für ihre Beobachtungen zu erzielen. Weitere bemerkenswerte Merkmale von Tecnai G2 F20 sind seine Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Fähigkeiten, die es Forschern ermöglichen, Elektronen zu verwenden, um die Atomstruktur eines Materials zu sondieren. Das Instrument verfügt zudem über einen Hochspannungsbereich von bis zu 200kV, der sich ideal für die Abbildung schwerer Elemente und großer Partikel eignet. Schließlich ist FEI Tecnai G2 F20 mit einer großen Kammer ausgelegt, die eine schnelle Entlüftung während der Probenbeladung ermöglicht, die schnelle Probentransfers und eine verbesserte Benutzereffizienz erleichtert. Kurz gesagt, Tecnai G2 F20 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das sehr vielseitig ist und dank seiner automatisierten Bühnen- und Navigationssysteme eine breite Palette an bildgebenden und spektroskopischen Funktionen sowie präzise Analysefunktionen bereitstellen kann. Das Instrument ist ideal für Forscher, die bei ihrer Probenuntersuchung höchste Auflösungs- und Manipulationsgenauigkeit benötigen.
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