Gebraucht FEI Tecnai G2 F20 #9246534 zu verkaufen

FEI Tecnai G2 F20 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Forschungsanwendungen. Das Mikroskop wurde mit einer Feldemissionskanone gebaut und bietet die Möglichkeit, hochauflösende, kontrastreiche Bilder mit Hilfe von Energiefiltern zu liefern. Dadurch kann der Benutzer die elementare Verteilung genau abbilden und subtile Merkmale und Fehlerstrukturen identifizieren. Das fortschrittliche Detektionssystem ist in der Lage, Auflösungen bis zu 1,2 nm in alle Richtungen und einen Arbeitsabstand von 14 mm für größere Proben zu erreichen. Das Mikroskop ist in der Lage, einen variablen Druckbetrieb zu betreiben und kann Drücke im Bereich von 10-500 Pa erreichen, wodurch Proben im Vakuum und bei mäßigem Druck abgebildet werden können. Die variable Druckfähigkeit ermöglicht eine größere Flexibilität in der Bildgebung, so dass der Benutzer eine Vielzahl von Probentypen und atomar aufgelösten Bildern erwerben kann. Tecnai G2 F20 ist mit einer robusten Beschleunigungsspannung ausgestattet, die von 0.1-30kV reicht. Mit der hohen Beschleunigungsspannung kommt die Fähigkeit für den Benutzer, den Arbeitsabstand einzustellen, so dass die Abbildung von empfindlichen Proben und dicken Proben. Diese Fähigkeit bietet auch verbesserte Tiefenschärfeinformationen, die topographische Bildgebung und 3-dimensionale Bildgebungsfunktionen ermöglichen. Das G2 F20 verfügt über eine Vielzahl von Detektoren, die dem Anwender verschiedene Methoden zur Erfassung und Analyse der erfassten Bilder bieten. Unter Verwendung von Sekundärelektronendetektoren wie Everhart-Thornley und Bessel, konvergenten Elektronendetektoren und rückgestreuten Elektronendetektoren ist der Anwender in der Lage, Bilder, chemische Analysen, kristallographische Analysen und topographische Bildgebung zu erhalten. Die Ergänzung des optionalen Oxford AZtec EDS Detektors ermöglicht es Anwendern, ihre Bildgebung durch elementares Mapping und Analyse zu ergänzen. FEI Tecnai G2 F20 ist mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche konzipiert, die die Verwendung des Mikroskops für den Benutzer erleichtert. Mit Automatisierungssystemen wie EasySem, AutoImage und RealTime können Anwender die Bedingungen für ihre Probe schnell und effizient einrichten. Zusätzlich ist das Mikroskop mit einem Genève X-Y-Z Probenmanipulator ausgestattet, der eine präzise Bewegung und genaue Ausrichtung der Probe ermöglicht. Tecnai G2 F20 ist ein fortschrittliches und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop für Forschungsanwendungen. Mit seiner umfassenden Palette von Detektoren, variabler Druckfähigkeit und benutzerfreundlicher Schnittstelle liefert FEI Tecnai G2 F20 hochauflösende, kontrastreiche Bilder und eine genaue Analyse verschiedener Probentypen.