Gebraucht FEI Tecnai G2 F20 #9267279 zu verkaufen

FEI Tecnai G2 F20 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches bildgebendes Instrument zur Beobachtung verschiedener Arten von Objekten bis hin zu Nanometer-Skala. Es ist in der Lage, nichtleitende Proben abzubilden, ohne dass leitfähige Beschichtungen metallisiert werden müssen. Das G2 F20 ist mit einer Reihe von Technologien und Funktionen ausgestattet, die überlegene Bild- und Analysedaten liefern. Seine innovative Kaltfeld-Emissionselektronenquelle bietet eine hohe Stabilität bei gleichzeitiger Maximierung der sichtbaren Bildauflösung. Die komplette automatisierte Erfassungs- und Navigationsausrüstung des G2 F20 ermöglicht eine schnelle und genaue Probenbewegung. Die G2 F20 verwendet eine Kombination aus elektronenfokussierter Optik und fortschrittlichen bildgebenden Techniken, um das perfekte Gleichgewicht von Geschwindigkeit und Auflösung zu bieten, um detaillierte Beobachtungen einer Reihe von Proben zu ermöglichen, sowohl biologische als auch nichtbiologische. Sein Elektronenstrahl (e-Beam) Lithographiesystem ermöglicht es dem Benutzer, Muster und Bildgebung bis zur atomaren Auflösung zu erstellen. Die G2 F20 ist auch für analytische Fähigkeiten optimiert, so dass Forscher verschiedene Arten von Proben analysieren können. Es beinhaltet eine EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) -Einheit für Elementaranalysen, eine AALEN (Electron Energy Loss Spectroscopy) -Maschine für chemische Analyse, ein WDS (Wavelength Dispersive Spectroscopy) -Werkzeug für elementare Kartierung und ein Die G2 F20 verfügt über eine integrierte Ausrichtungskamera zur Vereinfachung der Probenpositionierung sowie über einen Teilelektronenstrahl-Stigmator, mit dem der Benutzer den Strahl feinabstimmen kann, um die Bildgebung zu optimieren. Die Bildgebungs- und Analysefunktionen bieten eine breite Palette von Möglichkeiten zur Verbesserung der Bildgebung, Messung und Analyse auf einer Vielzahl von Materialien und Proben. Darüber hinaus bietet der G2 F20 ein hohes Maß an Bedienersicherheit sowie Benutzerfreundlichkeit. Seine intuitive Benutzeroberfläche und automatisierte Funktionen machen es relativ einfach zu bedienen, während die eingebauten Sicherheitsfunktionen eine sorgenfreie Bedienung und Installation bieten. Der G2 F20 verfügt zudem über ein integriertes Vakuummodell, das dafür sorgt, dass Proben frei von Verschmutzungen bleiben und optimale Abbildungsergebnisse ermöglichen. Insgesamt ist das Tecnai G2 F20 Rasterelektronenmikroskop ein hochmodernes bildgebendes Instrument, das Forschern außergewöhnliche bildgebende Funktionen, hochauflösende Bildgebung sowie erweiterte Analyse- und Navigationsfunktionen bietet. Es ist ein zuverlässiges, vielseitiges und einfach zu bedienendes Werkzeug, das verwendet werden kann, um verschiedene Arten von Proben zu erforschen und zu analysieren.