Gebraucht FEI / TECNAI G2 F30 S-Twin #9028804 zu verkaufen

Ein FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein fortschrittliches Instrument zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse verschiedener Proben. Es umfasst ein großes Sichtfeld und eine dynamische Fokussierung mit einem Doppelkammersystem, das die Probenvorbereitung und den Instrumentenbetrieb getrennt hält. Dieses fortschrittliche Mikroskop verfügt auch über einen energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) -Detektor, der eine elementare Analyse der Probe ermöglicht. FEI G2 F30 S-Twin SEM verfügt über eine Elektronenkanone mit einer Wellenlänge von 0,1 nm für überlegene Auflösung und hohe Vergrößerung Bildgebung. Es ist für den Betrieb bei höheren Strom- und Spannungsniveaus für eine breite Palette von Anwendungen konzipiert, einschließlich der Abbildung von biologischen Proben, Messmaterialien Mikrostruktur und Oberflächenrauhigkeit, zelluläre Pathologie und Arzneimittelabgabe Forschung. Dank der fokussierten Ionenstrahl-Technologie (FIB) bietet dieses Instrument zudem eine hervorragende Stabilität und Auflösung. TECNAI G2 F30 S-Twin SEM wurde entwickelt, um aufgrund seiner Dualkammer-Architektur, seiner 4-Achsen-motorisierten Bühne und fortschrittlichen Softwarefunktionen eine hervorragende Leistung zu bieten. Das SEM verwendet eine Kombination aus fortschrittlicher Elektronik und Optik für hochauflösende Bildgebung mit detailliertem Kontrast und Tiefe. Es ist auch mit einer Ischiaslinse ausgestattet, um die Beobachtung von Proben von der oberen und unteren Oberfläche sowie einen optionalen Niedrigvakuum-Modus für die Abbildung von empfindlichen Probenmaterialien zu ermöglichen. Neben Standard-Bildgebungsaufgaben ist G2 F30 S-Twin in der Lage, eine Reihe von analytischen Fähigkeiten wie Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) Detektor, automatische Partikelanalyse (APA), Backscattered Electron (BSE) Imaging und Scanning Ion Microprobe (SIM M). Darüber hinaus ermöglichen das Strahlstrom-Autofokussystem und die automatisierte Optimierung eine detaillierte Charakterisierung von Probenchemie und Struktur. Insgesamt ist FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin SEM ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug für die hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben. Es bietet eine beispiellose Kombination von Funktionen und Funktionen, einschließlich überlegener Auflösung, fortschrittliches elektromechanisches Design, ein hohes Maß an Automatisierung und ein umfangreiches Angebot an Analysewerkzeugen.