Gebraucht FEI / TECNAI G2 F30 S-Twin #9225984 zu verkaufen

FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsfähiges bildgebendes Gerät, das ultrahochauflösende bildgebende Fähigkeiten für eine Vielzahl von Bereichen wie Industrie, Medizin und wissenschaftliche Forschung bietet. Dieses Tool bietet eine leistungsstarke Kombination von Funktionen, die in anderen bildgebenden Systemen nicht gefunden wurden, um ein einzigartiges bildgebendes Erlebnis zu schaffen. FEI G2 F30 S-Twin bietet dem Anwender einen anpassbaren Rasterelektronenstrahl, eine 30 kV hohe Beschleunigungsspannung und einen Abtaststrahlstrom von bis zu 2 nA. Dieser Elektronenstrahl bietet ein leistungsstarkes, hochauflösendes Sichtfeld und kann verwendet werden, um hochwertige elementare Karten, Bilder und Analysen von Probenmaterial zu erstellen. Ein motorisierter Probenhalter bietet eine einfache Probenbeladung und präzise Positionierung mit bis zu 100 µm Bewegungsbereich und einer maximalen Probengröße von 100 mm. TECNAI G2 F30 S-Twin ist auch mit einer Vielzahl von analytischen Werkzeugen ausgestattet, um die elementare Zusammensetzung von Proben zu analysieren, einschließlich der energiedispersiven Röntgenspektrometrie (EDS) und der Energiefilterbildgebung (EFI). Das eingebaute EDS ermöglicht es dem Benutzer, die elementare Zusammensetzung einer Probe zu identifizieren, und das hochauflösende EFI ermöglicht eine detaillierte chemische Abbildung der Probe. Darüber hinaus ermöglicht die patentierte G2-Plattform-Technologie von FEI eine automatisierte Erfassung und Analyse sowohl an pin- als auch an plattformmontierten Proben. Diese leistungsstarke automatisierte Ausrüstung ermöglicht es Benutzern, Proben schnell zu erfassen, zu verarbeiten und zu analysieren, ohne Zeit mit der Konfiguration des Mikroskops zu verbringen. Dieses System ist außerdem mit einer Reihe von Sicherheitsmerkmalen ausgestattet, darunter eine Türverriegelung, eine verschlüsselte Benutzerzugangseinheit und ein Stoßschutzmodus, der ein Höchstmaß an Sicherheit für das Instrument gewährleistet. Insgesamt bietet das G2 F30 S-Twin Rasterelektronenmikroskop eine leistungsstarke Suite von Bildgebungs-, Analyse- und Automatisierungsfunktionen, die es zu einem idealen Instrument für eine Vielzahl von Anwendungen macht. Die proprietäre Plattformtechnologie und die automatisierte Akquisitions-/Analysemaschine machen es einfach, Daten für eine Vielzahl von Proben schnell zu erfassen, zu verarbeiten, zu analysieren und zu speichern. Die hochauflösenden bildgebenden Funktionen und integrierten Analysetools bieten die perfekte Mischung aus Funktionen für jede bildgebende Aufgabe.