Gebraucht FEI / TECNAI G2 F30 Twin #293814187 zu verkaufen

ID: 293814187
Weinlese: 2002
Transmission Electron Microscope (TEM) Field Emission Gun (FEG) Single-Tilt holder Single-Tilt Tomography holder Double-Tilt holder Water chiller Diffusion pumps Turbomolecular pumps Gatan UltraScan 4000 No air compressor 2002 vintage.
FEI/TECNAI G2 F30 Twin ist ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für seine außergewöhnlichen bildgebenden Fähigkeiten und Vielseitigkeit bekannt ist. Dieses hochmoderne Instrument ist für ein breites Anwendungsspektrum in den Bereichen Materialwissenschaft, Nanotechnologie, biologische Forschung und vieles mehr konzipiert. Mit seiner Dual-Beam-Konfiguration und fortschrittlichen Bildgebungstechnologien bietet FEI G2 F30 Twin Forschern beispiellose Einblicke in die Mikro- und Nanostrukturen verschiedener Proben. Das Kernstück von TECNAI G2 F30 Twin ist seine Hochleistungs-Elektronenoptik, die eine Feldemissionselektronenkanone umfasst, die Elektronenstrahlen mit hoher Helligkeit mit ausgezeichneter Kohärenz und Stabilität liefert. Dies ermöglicht dem Mikroskop eine hochauflösende Bildgebung mit außergewöhnlicher Klarheit und Kontrast, so dass Forscher feinste Details ihrer Proben präzise visualisieren können. G2 F30 Twin verfügt über ein vielseitiges Doppelstrahl-Design, wobei sowohl ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) als auch ein Transmissionselektronenmikroskop (TEM) in einer einzigen Plattform integriert sind. Diese einzigartige Konfiguration ermöglicht es Benutzern, nahtlos zwischen SEM- und TEM-Bildverarbeitungsmodi zu wechseln und bietet eine umfassende Lösung für eine Vielzahl von Forschungsanforderungen. Ob die Untersuchung der Oberflächenmorphologie einer Probe mit SEM oder die Analyse ihrer internen Struktur mit TEM, Forscher können die vollen Fähigkeiten von FEI/TECNAI G2 F30 Twin für eine umfassende Charakterisierung nutzen. Zusätzlich zu seinem Dual-Beam-Design ist FEI G2 F30 Twin mit einer Reihe fortschrittlicher Bildgebungs- und Analysefunktionen ausgestattet, um eine Vielzahl von Forschungsanwendungen zu unterstützen. Das Mikroskop verfügt über ein hochauflösendes Detektionssystem zur Bildgebung und Analyse von Sekundärelektronen (SE) und Rückstreuelektronen (BSE), mit dem Forscher detaillierte Informationen zur Probenzusammensetzung und Topographie erhalten können. Darüber hinaus ist das Mikroskop mit einer energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) -Einheit für die Elementaranalyse ausgestattet, mit der Forscher die chemische Zusammensetzung ihrer Proben mit hoher Empfindlichkeit und Genauigkeit identifizieren und quantifizieren können. Zwilling des TECNAI G2 F30 rühmt sich auch fortgeschrittener Elektronbalkenmanipulationsfähigkeiten, einschließlich Optionen für das Balkensteindruckverfahren, Nanoherstellung, und in - situ Experimentieren. Forscher können diese Funktionen nutzen, um präzise Musterungen und Modifikationen von Proben auf der Nanoskala durchzuführen und dynamische Prozesse in Echtzeit unter kontrollierten Umgebungsbedingungen zu beobachten. In Kombination mit seinen hochauflösenden Bildgebungsfunktionen machen diese Funktionen G2 F30 Twin zu einem leistungsstarken Werkzeug für die statische und dynamische Nanoskalianalyse. Die benutzerfreundliche Oberfläche und die erweiterten Automatisierungsfunktionen von FEI/TECNAI G2 F30 Twin verbessern die Benutzererfahrung weiter und ermöglichen eine effiziente Bedienung und Datenerfassung. Die Mikroskopsoftware ermöglicht eine intuitive Steuerung von Bildgebungsparametern, Datenverarbeitungs- und Analyseroutinen, wodurch Forscher ihren Workflow optimieren und ihre Produktivität maximieren können. Darüber hinaus ist die Maschine mit einer breiten Palette von Zubehör und Peripheriegeräten kompatibel, was eine Anpassung und Erweiterung an spezifische Forschungsanforderungen ermöglicht. Insgesamt stellt FEI G2 F30 Twin ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop mit außergewöhnlichen bildgebenden Fähigkeiten, Vielseitigkeit und fortschrittlichen Funktionen dar, um eine breite Palette von Forschungsanwendungen zu unterstützen. Das Dual-Beam-Design, die Hochleistungselektronenoptik, fortschrittliche Bildgebungstechnologien und die benutzerfreundliche Schnittstelle machen es zu einem idealen Werkzeug für Forscher, die die Grenzen der Mikroskopie und Nanoskalianalyse erweitern möchten. Ob Sie Materialeigenschaften untersuchen, biologische Proben studieren oder nanoskalige Phänomene erforschen, TECNAI G2 F30 Twin bietet beispiellose bildgebende Leistung und analytische Fähigkeiten, um bahnbrechende Forschung in verschiedenen wissenschaftlichen Disziplinen voranzutreiben.
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