Gebraucht FEI Tecnai G2 F30 #9199627 zu verkaufen

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ID: 9199627
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2005
FE Transmission electron microscope (TEM), 12" Missing part 2005 vintage.
FEI Tecnai G2 F30 Scanning Electron Microscope ist ein leistungsstarkes, hochauflösendes Instrument zur Abbildung von nanogroßen Partikeln und Strukturen, das Bilder mit bis zu 30 nm Auflösung erzeugen kann. Dieses Werkzeug ist für die Bildgebung von anorganischen und nanogroßen Materialien wie Metalllegierungen, Halbleitern und Keramiken optimiert. Tecnai G2 F30 ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle ausgestattet, die die Stabilität, Qualität und Auflösung der Bilder verbessert. Diese Elektronenquelle verbessert auch den Durchsatz für eine schnellere Probenanalyse, was zu einer höheren Genauigkeit und Konsistenz der Ergebnisse führt. FEI Tecnai G2 F30 Scanning Electron Microscope enthält eine helle und hochauflösende Elektronensäule, die sich ideal für hochkontango-empfindliche Proben, effiziente analytische Arbeit und 3D-Bildgebung eignet. Die Betriebseffizienz des Mikroskops wird durch die Einbeziehung der Smart APE-Technologie weiter verbessert, die Elektronenstrahlenergie und Helligkeit für die abzubildende Probe automatisch optimiert. Zusätzlich zur Bildaufbereitung von Fähigkeiten zeigt Tecnai G2 F30 auch fortgeschrittene analytische Methoden wie Energie dispersive Röntgenstrahlspektroskopie (EDS), Elektronrückstreuungsbeugung (EBSD), Elektron Spektroskopie von Microscopy-energy Dispersive (SEM-EDS) Scannend und elementar kartografisch darzustellen. Diese Analysemethoden bieten einen genaueren und detaillierteren Blick auf die Proben und ermöglichen ein tieferes Verständnis ihrer Zusammensetzung, Struktur und Eigenschaften. Das System umfasst eine Vielzahl von Zubehörteilen, wie eine automatisierte Stufe, Probenhalter und Halterungen, Öffnungen zur präzisen Lichtmessung, Beleuchtungstechniken zur Probenausrichtung und eine Vielzahl von Everhart-Thornley-Detektoren zur Detektion von nieder- und hochenergetischen Ionen. FEI Tecnai G2 F30 Rasterelektronenmikroskop eignet sich hervorragend für Forschungs-, Industrie- und Bildungsanwendungen. Seine Präzisionstechnik, seine anspruchsvolle Elektronik und seine hochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für jeden Anwender, der detaillierte Informationen über eine Reihe von Materialien sucht, von Metalllegierungen bis hin zu Halbleitern.
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