Gebraucht FEI TEMLink 14771-003 #9298772 zu verkaufen

FEI TEMLink 14771-003 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebungs-, Analyse- und Automatisierungsanwendungen. Es ist eine kostengünstige Lösung für forschungstechnische Elektronenmikroskope mit einer breiten Palette von Funktionen und fortschrittlicher Leistung. TEMLink 14771-003 ist mit einer Feldemissionsquelle (FES) ausgestattet, die einen hohen Arbeitszyklus und eine Spitzenhelligkeit von 100 nanoAmps/cm2 aufweist. Diese Technologie ermöglicht eine sehr hohe Auflösung in der bildgebenden und automatisierten Analyse. Darüber hinaus ist FEI TEMLink 14771-003 mit einer integrierten Oberflächenanalyseausrüstung (SAXFPE) zur Elementaranalyse und chemischen Detektion ausgestattet. Dieses System ist mit einem AE-Detektor, EDX-Detektor, hyperspektraler Bildgebungseinheit und einem STEM-Detektor ausgestattet, um maximale Datengenauigkeit zu gewährleisten. Das Design von TEMLink 14771-003 umfasst auch seine hochauflösenden Funktionen. Mit einer langen Arbeitsstrecke (35 Mikrometer) und einer hohen numerischen Apertur (1,2) kann FEI TEMLink 14771-003 Proben bei Auflösungen bis zu 4 nm abbilden und analysieren. TEMLink 14771-003 verfügt auch über eine Softwaresteuerung seiner Komponenten, die den Fernbetrieb und die Automatisierung seiner Systeme ermöglicht. FEI TEMLink 14771-003 kommt auch mit einer Vielzahl von Bildverarbeitungsfunktionen sowie automatisierten Maschinenanalyseprogrammen. Zu diesen Programmen gehören ein statistisches Analysetool und ein KI-gesteuertes Objektklassifizierungstool. Mit der Automatisierung von Werkzeugeinstellungen können vorgegebene Abbildungsparameter und Kalibrierungen für zuverlässige Messungen eingestellt werden. Schließlich enthält TEMLink 14771-003 auch Optionen zur Umweltkontrolle, um das Mikroskop während langer und kurzfristiger Experimente stabil und sicher zu halten. Dazu gehören Funktionen wie eine kontrollierte Atmosphäre und Feuchtigkeitskammer, Druck- und Vibrationskontrolle sowie eine Vakuumanlage. Insgesamt ist FEI TEMLink 14771-003 ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das für die Bildgebung und Analyse in Forschungsqualität geeignet ist. Es verfügt über eine Vielzahl von Funktionen, die es zu einem geeigneten Werkzeug für hochauflösende Bildgebung, Oberflächenanalyse, Automatisierung und Umweltkontrolle machen. Die In-Lens Field Emission Source (FES) und die Software-Automatisierungsfunktionen ermöglichen eine hochauflösende Bildgebung und automatisierte Analyse in einer kostengünstigen Lösung.