Gebraucht FEI TEMLink 150 #293604494 zu verkaufen

FEI TEMLink 150 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur zerstörungsfreien Probencharakterisierung in der Materialwissenschaft. Es ist in der Lage, rückgestreute Elektronenbildgebung (BEI) und sekundäre Elektronenbildgebung (SEI) mit hoher Auflösung und ist weit verbreitet in der hochauflösenden Oberflächenverunreinigungsanalyse. TEMLink 150 arbeitet unter Verwendung einer thermionischen Quelle, die es dem Mikroskop ermöglicht, verschiedene bildgebende Techniken durchzuführen. Es ist mit einer Single-Mode-Pistole ausgestattet, die eine Elektronenquelle (Wolframfaden) enthält, die bei Raumtemperatur betrieben wird. Diese Elektronenquelle wurde entwickelt, um den Wartungsaufwand zu reduzieren und dem Benutzer eine hervorragende Leistung zu bieten. Das Mikroskop bietet einen automatischen Nullmechanismus für schnelle, genaue und reproduzierbare Ergebnisse. FEI TEMLink 150 ist ein vielseitiges Instrument, mit dem eine Vielzahl von Materialien wie Metalle, Halbleiter und Keramik charakterisiert werden können. Dank seiner Flexibilität eignet es sich auch für die Abbildung organischer Materialien wie Polymere und biologische Proben. TEMLink 150 verwendet einen hochauflösenden bildgebenden Detektor, der Anwendern eine Vielzahl von Optionen bietet. Phasenkontrast-Bildgebung und energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) gehören zu den eingebauten Optionen. Durch die Verwendung eines optionalen digitalen Quantifizierungs-Bildprozessors können Anwender auch quantitative Informationen über Probenmerkmale wie Rauheit oder andere Oberflächenstile erhalten. FEI TEMLink 150 bietet hervorragende Bildgebungs- und Analysefunktionen bei schneller Scangeschwindigkeit. Mit einem einstellbaren Neigungswinkel können Benutzer Probenmerkmale aus mehreren Winkeln leicht erkunden. Die Probe kann zur komplexen Abbildung auch um ihre vertikale Achse gedreht werden. Darüber hinaus ermöglicht die automatische Strahlabtastausrichtung des Mikroskops es Benutzern, Proben schnell zu messen, abzubilden und zu analysieren. TEMLink 150 verfügt zudem über ein modernes Design mit einer kippbaren Farbgrafik-Benutzeroberfläche und einfach zu bedienenden grafischen Werkzeugen. Durch den Auto-Balance-Modus entfällt die manuelle Anpassung der Einstellungen des Mikroskops, sodass Benutzer schnell auf ihre gewünschten Daten und Analysen zugreifen können. FEI TEMLink 150, mit seiner hervorragenden Leistung und vorteilhaften Eigenschaften, ist eine ideale Wahl für zerstörungsfreie Materialien Charakterisierung. Es ist ein unschätzbares Werkzeug für Forscher, Ingenieure und Wissenschaftler gleichermaßen.