Gebraucht FEI TEMLink-KY02 #9298727 zu verkaufen

FEI TEMLink-KY02 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit außergewöhnlichen Fähigkeiten. TEMLink-KY02 ist ein ideales Werkzeug zur Charakterisierung von Nanomaterialien mit Submikrometer- und Nanometer-Auflösung. Zusätzlich können FEI- TEMLink-KY02 mit ihrer automatisierten Kipp-/Schaltsteuerung 3D-Bilder von Proben erzeugen. TEMLink-KY02 verfügt über eine robuste Rasterelektronensäule mit einer hochauflösenden Feldemissionskanone, die eine Elektronenstrahlspannung von bis zu 30kV liefern kann. Seine Probenstufe ist in der Lage, große Probengrößen aufzunehmen und gleichzeitig eine wiederholbare und präzise Positionierung sowie automatisiertes Scannen zu ermöglichen. FEI TEMLink-KY02 verwendet auch einen Sekundärelektronendetektor und einen Rückstreuelektronendetektor, um kontrastreiche Bilder der Probe zu erzielen. Dieses Bilddetail wird durch das Vektorkorrektorsystem von TEMLink-KY02 weiter verbessert, wodurch präzise Bilder erzeugt werden können, indem systematische und zufällige Artefakte in den aufgenommenen Bildern minimiert werden. Diese Bildqualität kann durch den Einsatz der bordseitigen Nachbearbeitungsfunktionen wie sequentielle Bildgebung und Bildstapelung weiter erhöht werden. FEI TEMLink-KY02 bietet eine breite Palette von Funktionen, die es zu einem außergewöhnlichen SEM für nahezu jede Laborumgebung machen. Dazu gehören eine Speicherleuchtstoffabbildungseinheit, die digitale Bilder in hoher Qualität erzeugt, sowie eine fortschrittliche Partikelabbildungsmaschine zur Verfolgung der Bewegung von Nanopartikeln. Es enthält auch einen Energiefilter zur Analyse der chemischen Zusammensetzung von Proben und einen sekundären geladenen Teilchendetektor zur Beobachtung der atomaren Struktur. Ein weiteres beeindruckendes Merkmal von TEMLink-KY02 ist sein Umweltkontrollwerkzeug. Diese Funktion ermöglicht es Benutzern, Temperatur, Luftfeuchtigkeit und Vibrationen zu überwachen und anzupassen, was eine außerordentlich stabile SEM-Nutzung und verbesserte Bildgebungstreue ermöglicht. Abschließend ist FEI TEMLink-KY02 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das sich gut zur Charakterisierung von Nanomaterialien, zur Erzeugung von 3D-Bildern sowie vielen anderen Anwendungsbereichen eignet. Das robuste Design, die hochauflösende Bildgebung und die automatisierte Steuerung machen dieses SEM zu einer herausragenden Wahl für jedes Labor.