Gebraucht FEI Titan CT #293595104 zu verkaufen

FEI Titan CT ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Bildgebung und Analyse der Oberflächenstruktur von Feststoffen verwendet wird. Es hat verschiedene Sichtfeld-Optionen für die detaillierte Analyse von Proben im kleinen und großen Maßstab. Titan CT ist mit einer Cold Field-Emission Source (CFES) ausgestattet, die einen erhöhten Elektronensondenstrom erzeugt, der zu einer besseren Auflösung von Merkmalen auf der Probe führt. Darüber hinaus reduziert die CFES die Aufladung von Partikeln, die typischerweise mit herkömmlichen SEMs verbunden sind. Mit seiner verbesserten Computerverarbeitungsfähigkeit kann FEI Titan CT multimodale Bilddaten mit beispiellosen Geschwindigkeiten erfassen. Dies ermöglicht eine umfangreiche mikrostrukturelle Charakterisierung von Proben. Titan CT nutzt eine Reihe von Detektoren, um Signale aus der Probe zu gewinnen. Rückgestreute Elektronendetektoren (BSE) können die emittierten Sekundärelektronen nachweisen, wenn die Primärelektronen auf Probenatome treffen. Diese liefern topographische Details von Proben, mit sowohl flacher als auch tiefer Fokustiefe. Die Sekundärelektronendetektoren (SE) können die emittierten Elektronen nachweisen, wenn die Primärelektronen mit der Probenoberfläche interagieren, wodurch mehr topographische Details zur Erzeugung von SEM-Bildern mit höherem Kontrast bereitgestellt werden. Es stehen auch Paralleldetektoren zur Analyse des Energiespektrums emittierter Elektronen zur Verfügung. FEI Titan CT kann auch einen Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (EDS) Detektor zur chemischen Analyse der Probe enthalten. Diese Technik ermöglicht die Unterscheidung von Elementen basierend auf der Energie, die freigesetzt wird, wenn sie mit Primärelektronen getroffen werden. Darüber hinaus kann der EDS-Detektor zur Messung der elementaren Konzentrationen von Proben verwendet werden, was ein besseres Verständnis ihrer Chemie ermöglicht. Titan CT bietet auch eine leistungsstarke aberrationskorrigierte Bildauflösung und erzeugt hochdetaillierte Bilder mit einer Auflösung von bis zu 1 nm. Dies ermöglicht die Beobachtung von feinen Merkmalen, wie Korngrenzen, Hohlräumen und Rissen. FEI Titan CT kann auch Digital Image Correlation (DIC) erzeugen, um alle relevanten Parameter zu bestimmen, die zur Beschreibung der Oberfläche einer Probe erforderlich sind. Die DIC-Technik wird verwendet, um sowohl die Form- als auch die Dehnungsinformation der Probe zu erhalten. Schließlich verfügt Titan CT über automatisierte Vakuumprozesse, die die Strahlflecklebensdauer der Elektronenquelle verringern und einen fehlerfreien Betrieb für längere Zeiträume gewährleisten. FEI Titan CT bietet auch eine Vielzahl von automatisierten, benutzerfreundlichen Funktionen für die Probenvorbereitung. Abschließend ist Titan CT ein komplexes und leistungsstarkes Werkzeug zur Bildgebung und Analyse von Proben verschiedener Größen. Seine fortschrittliche Ergonomie und Eigenschaften machen es zu einer bevorzugten Wahl für Mikroskopie-Profis.