Gebraucht FEI XL 30 #293820770 zu verkaufen

FEI XL 30 ist eines der führenden Rasterelektronenmikroskope (Rasterelektronenmikroskope), das heute verfügbar ist und beste Leistung liefert. Es wurde entwickelt, um überlegene bildgebende Funktionen für eine breite Palette von Anwendungen bereitzustellen, so dass Benutzer sowohl organische als auch anorganische Materialien genau untersuchen und analysieren können. XL 30 verfügt über ein variables Druckdesign, das den Betrieb bei verschiedenen Vakuumstufen ermöglicht, so dass Benutzer Kontaminationen aus dem Probe entfernen können, was zu Bildern höherer Auflösung führt. Sein direkter Ionendetektor (DID) ermöglicht eine schnelle und genaue Analyse der Ladungsdichte von Proben, ohne eine bildgebende Sitzung unterbrechen zu müssen. Die Objektivlinse auf Galvanometerbasis mit elektrostatischen Linsen bietet einen Arbeitsabstand von bis zu 5 mm und ermöglicht es Benutzern, Proben bei höheren Vergrößerungen zu beobachten. Es ist auch mit einem digitalen Bildprozessor ausgestattet, mit dem Benutzer Bildparameter wie Kontrast und Helligkeit anpassen können, um die Bildqualität zu optimieren. FEI XL 30 kann sowohl im Hochvakuum- als auch im Niedervakuumscanmodus betrieben werden, sodass Benutzer fragile Proben abbilden können, die in einer Hochvakuumumumgebung zerstört würden. Es ist auch mit einer Vielzahl von Probenstufen ausgestattet, einschließlich XY-Probenbewegungsstufe, Standard-automatische Stufe und rotierende Probenstufen. Die XY-Probenbewegungsstufe ermöglicht eine präzise Probenposition und ermöglicht die serielle Abbildung großer Flächen. Die automatische Stufe bietet eine Quer- und Annäherungsbewegung der Probe, die eine automatisierte Bilderfassung und Navigation ermöglicht. Die Drehprobenstufen haben eine Kapazität für bis zu 5 Proben und eine hochpräzise Winkelauflösung. XL 30 enthält auch eine PC-Steuerung, die eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche bietet. Diese Schnittstelle ermöglicht es Benutzern, das Mikroskop zu steuern und auf die gesammelten Daten zuzugreifen. Insgesamt ist FEI XL 30 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das Anwendern überlegene Bildgebungsfunktionen, zahlreiche Probenstufen und PC-Steuerungsfunktionen bietet. Diese Funktionen ermöglichen es Benutzern, eine breite Palette von Proben und Materialien einfach zu analysieren, zu beobachten und abzubilden.