Gebraucht HITACHI 4600 #9244798 zu verkaufen

HITACHI 4600 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsfähiges bildgebendes und analytisches Werkzeug, das die Erkundung der topographischen und strukturellen Merkmale einer Vielzahl von Materialien ermöglicht. Das Instrument bietet detaillierte Bildgebungs- und Mikroanalysefunktionen, wie elementares Mapping und Linienscans. Die hochauflösenden digitalen Bildgebungsfähigkeiten von 4600 SEM erleichtern die Beobachtung von bildgebenden Proben aus fast jedem leitfähigen Material, einschließlich Metallen, Polymeren und Verbundstoffen. Es verfügt über eine hochauflösende Feldemissionskanone (FEG), die die Nachfrage nach detaillierten Bildern auch auf Submikron-Strukturen befriedigt. Die Pistole hat eine niedrige Stromdichte, die hilft, Schäden an der Probe zu minimieren und gleichzeitig Auflösungen von weniger als 1 nm bereitzustellen. Die automatisierte Bedienung und benutzerfreundliche Software von HITACHI 4600 SEM machen es zu einem idealen Instrument für eine Vielzahl von Anwendungen zur Materialcharakterisierung. Durch automatisierte Stigmator-Steuerungen wurde die Analyse von Proben im Vergleich zu manuellen Operationen erheblich vereinfacht. Das AutoScan-System steuert Beispielfokussierung, Stigmation, Helligkeit, Kontrast und andere Faktoren ohne manuelle Eingabe. Das SEM beinhaltet ein integriertes EDS-Röntgendetektorsystem zur Elementaranalyse. Das vielseitige Röntgensystem ermöglicht die Erfassung von Daten in einer Vielzahl von Modi, darunter Single-Element-Mapping, Full-Spectrum-EDX-Analyse und isolierte Peak-Messungen. Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) kann sowohl qualitative als auch quantitative Informationen über das Probenmaterial liefern. 4600 SEM ist ein wichtiges Werkzeug für die materialwissenschaftliche Forschung einschließlich Metallurgie, Elektronik und Umwelttechnik. Es spielt auch eine wichtige Rolle in der Halbleiterindustrie durch die Inspektion und Prüfung von integrierten Schaltungen sowie in der Automobil- und Luftfahrtindustrie für Fehleranalyse und Qualitätskontrolle. Mit seinen fortschrittlichen bildgebenden und analytischen Fähigkeiten bietet HITACHI 4600 SEM Forschern die notwendigen Einblicke, um die Struktur und Zusammensetzung von Materialien besser zu verstehen.