Gebraucht HITACHI 4700 #293774903 zu verkaufen

HITACHI 4700 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene Materialforschung und -analyse. 4700 bietet hochauflösende Bildgebungsfunktionen, effiziente Datenerfassung und vielseitige Analysetools und ist ein leistungsstarkes Instrument für eine Vielzahl wissenschaftlicher Anwendungen. HITACHI 4700 verfügt über eine Feldemissionselektronenquelle, die einen hochfokussierten Elektronenstrahl für eine überlegene Bildauflösung liefert. Mit einer maximalen Beschleunigungsspannung von bis zu 30 kV kann das Mikroskop Vergrößerungen von 20x bis 1.000.000x erreichen, so dass Forscher die Nanostruktur verschiedener Materialien mit außergewöhnlichen Details erforschen können. Eine der wichtigsten Stärken von 4700 ist seine Fähigkeit, schnelle und genaue Elementaranalysen durch energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) durchzuführen. Das Mikroskop ist mit einem fortschrittlichen EDS-Detektor ausgestattet, der eine genaue Identifizierung der in der Probe vorhandenen Elemente sowie eine Quantifizierung ihrer relativen Fülle ermöglicht. Dieses Merkmal ist besonders wertvoll für die Charakterisierung der chemischen Zusammensetzung von Materialien und die Untersuchung elementarer Verteilungsmuster im Mikro- und Nanobereich. Neben der EDS-Analyse unterstützt HITACHI 4700 die Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD), die wertvolle Informationen über die kristallographische Orientierung und Phasenverteilung innerhalb einer Probe liefert. Durch die Korrelation kristallographischer Daten mit elementarer Zusammensetzung können Forscher Einblicke in die mikrostrukturalen Eigenschaften und das mechanische Verhalten von untersuchten Materialien erhalten. 4700 ist mit einer intuitiven Benutzeroberfläche und Software-Suite ausgestattet, die die Datenerfassung und -analyse optimiert. Die Software ermöglicht es Benutzern, Bildgebungsparameter zu steuern, qualitativ hochwertige Bilder und Spektren zu erfassen und erweiterte Bildverarbeitungs- und Visualisierungsaufgaben mit Leichtigkeit durchzuführen. Darüber hinaus bietet das Mikroskop automatisierte Bildgebungs- und Analysefunktionen wie Partikelgrößenverteilungsanalyse und Phasenmapping, um die Produktivität und Datengenauigkeit zu verbessern. HITACHI 4700 ist für eine Vielzahl von Probentypen und -größen konzipiert, mit flexiblen Optionen für die Bearbeitung von Proben, die die Analyse von leitfähigen und nicht leitfähigen Materialien ermöglichen. Das Instrument ist mit mehreren Abbildungsmodi ausgestattet, einschließlich sekundärer Elektronenbildgebung, rückgestreuter Elektronenbildgebung und Niedervakuumbildgebung, die auf der Grundlage der spezifischen Anforderungen des Experiments ausgewählt werden können. Für Forscher aus den verschiedensten Bereichen wie Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Geologie und Life Sciences bietet 4700 eine umfassende Lösung zur Untersuchung der Mikrostruktur, Zusammensetzung und Eigenschaften von Materialien auf der Nanoskala. Ob routinemäßige Qualitätskontrollanalysen oder Spitzenforschung - Anwender können sich auf HITACHI 4700 verlassen, um qualitativ hochwertige bildgebende und analytische Ergebnisse für eine breite Palette wissenschaftlicher Anwendungen zu liefern. Abschließend zeichnet sich das Rasterelektronenmikroskop 4700 als vielseitiges und leistungsstarkes Werkzeug zur Charakterisierung von Materialien mit außergewöhnlicher Auflösung und Analysefähigkeit aus. Mit seiner fortschrittlichen Bildgebungstechnologie, effizienten Datenerfassungsfunktionen und einer benutzerfreundlichen Oberfläche ermöglicht HITACHI 4700 es Forschern, die komplexen Details von Materialien auf Mikro- und Nanoskala zu erforschen und wissenschaftliche Entdeckungen über verschiedene Disziplinen hinweg voranzutreiben.