Gebraucht HITACHI 6300 #9136773 zu verkaufen

HITACHI 6300
ID: 9136773
Scanning electron microscope (SEM).
HITACHI 6300 ist eine niedrige Stromspannung, hochauflösende Abtastung des Elektronmikroskops (SEM), die für die Elektronmikroskopie und materielle Analyse verwendet ist. Es ist für einen hohen Durchsatz bei beschleunigter Geschwindigkeit und hohen Kontrast ausgelegt. Zur Grundausstattung gehören ein CS-Rasterelektronenmikroskop (SEM), ein EDS-Detektor (energiedispersive Röntgenstrahlung), eine erweiterte Elektronenoptiksäule und ein digitales Bildsystem. Das Mikroskop nutzt einen Raumladungseffekt, um den Strahl bei niedriger Beschleunigungsspannung zu steuern und die Informationen dann digital an die Steuereinheit zu übertragen. Die computergesteuerte Maschine minimiert den Effekt des Raumladungseffekts weiter, indem sie eine Echtzeiteinstellung der Linseneinstellungen und Verstärkung zur Optimierung der Bildauflösung vorsieht. Zusätzlich wird ein Vakuumwerkzeug verwendet, um ein Vakuum in der Kammer aufrechtzuerhalten, um die Möglichkeit einer Kontamination während des Betriebs zu verringern. Das SEM hat eine hohe Empfindlichkeit und Auflösung von bis zu 1000x und kann Proben mit sehr kleinen Flächen, wie 10nm, analysieren. Das Mikroskop wird mit einer Hochleistungsbildverarbeitungseinheit ausgestattet, die die Unähnlichkeit, Entschlossenheit und dynamische Reihe des Beispielbildes verbessert. Darüber hinaus ermöglicht die In-situ-Spektralanalyse dem Anwender, die Analyseergebnisse in Echtzeit zu erhalten. 6300 läuft bekanntlich mehrere Operationen gleichzeitig, was zur Verbesserung der Betriebseffizienz beiträgt. Darüber hinaus bietet die integrierte Probenstufe ein breites Bewegungsangebot und unterstützt eine parallele Datenübertragung, die über einen internen Speicher erreicht wird, so dass der Benutzer schnell Bilder erfassen kann. HITACHI 6300 ist ein vielseitiges Hochleistungs-SEM-Asset, das sich für Anwender eignet, die hohe Geschwindigkeit und Genauigkeit für die SEM-Bildgebung und -analyse benötigen. Es wird häufig für die Qualitätskontrolle in der Industrie und Forschung, vor allem in Bereichen wie Halbleiter, Materialwissenschaft, Nanotechnologie und Biologie verwendet.
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