Gebraucht HITACHI 6400 #9136774 zu verkaufen

HITACHI 6400 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das die Bildgebung und Analyse von Mikro- oder Nanostrukturen in allen Arten von Materialien mit höherer Auflösung ermöglicht. 6400 ist mit einer Cold Field Emission (CFE) Gun ausgestattet, die hochauflösende Bilder von nanometergroßen Proben liefert. Die CFE-Pistole nutzt auch eine Geräuschreduzierung Ausrüstung für hochpräzise Bildgebung mit einem sehr niedrigen Elektronenstrom. HITACHI 6400 ist weiter mit einer Reihe von erweiterten Funktionen wie variablen Druck-Modus für Niedervakuum-Beobachtungen, thermische Änderung Scan und Dual-Detektor-System ausgestattet. Diese Doppeldetektoreinheit besteht aus einem Rückstreudetektor und einem Sekundärelektronendetektor, der es dem Benutzer ermöglicht, die Oberfläche und Tiefe der Proben zu beobachten und detailliertere Informationen über die Oberflächen der zu untersuchenden Proben zu erhalten. 6400 ist auch mit einem sekundären Elektronenenergiesignal ausgestattet, das es ermöglicht, die Energieverteilung auszuwerten und den Kontrast von abgetasteten Bildern zu erhöhen. Es enthält auch einen Gasphasendetektor, der zum Nachweis von aus einer Probe emittierten Gasen zur Analyse ihrer Molekülstruktur verwendet wird. Das SEM enthält auch eine breite Palette von Zubehör, mit dem die Maschine für eine Vielzahl von Anwendungen angepasst werden kann. Dieses Zubehör umfasst verschiedene Arten von Detektoren, Linsen und Stufen für die Probenpositionierung und -handhabung. HITACHI 6400 hat die Fähigkeit, die Größe, Form und Oberflächenstruktur von Partikeln und Mikrostrukturen zu messen. Es ist auch in der Lage, die elektrischen, magnetischen, optischen und oberflächenchemischen Eigenschaften einer Probe zu messen. Der Anwender kann auch mittels der EDS- oder WDS-Detektorsysteme quantitative Informationen über die Zusammensetzung einer Probe erhalten. 6400 verfügt über eine leistungsstarke benutzerfreundliche Software-Suite, um die Datenerfassung und -analyse zu erleichtern. Es enthält automatische Funktionen wie; automatische Fokussierung, Ausrichtung, Bildnaht, Echtzeit-Slice und Integration, Musteranalyse, dreidimensionale Rekonstruktion, statistische Analyse und Mosaik. Insgesamt ist HITACHI 6400 ein leistungsstarkes und anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, Benutzern ein hochauflösendes Bild von Proben in Nanometergröße zur Verfügung zu stellen. Es ist ein ideales Werkzeug für Forscher und Wissenschaftler, die genaue und detaillierte Bildgebung und Analyse von kleinen Partikeln und Mikrostrukturen benötigen.