Gebraucht HITACHI 7800H #293753907 zu verkaufen

HITACHI 7800H ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop (SEM) der HITACHI High-Tech Corporation. Dieses fortschrittliche analytische Instrument bietet hochauflösende bildgebende Funktionen, Elementaranalyse und Oberflächencharakterisierung für eine breite Palette wissenschaftlicher und industrieller Anwendungen. 7800H ist mit modernster Technologie und Funktionen ausgestattet, die es Forschern, Wissenschaftlern und Ingenieuren ermöglichen, Materialien auf Mikro- und Nanoskala mit außergewöhnlicher Detailtreue und Präzision zu untersuchen. Herzstück von HITACHI 7800H ist sein elektronenoptisches System, das aus einer Elektronenkanone mit hoher Helligkeit, elektromagnetischen Kondensatorlinsen und elektrostatischen Abtastspulen besteht. Dieses ausgeklügelte System erzeugt einen fokussierten Elektronenstrahl, der über die Probenoberfläche scannt, was zu hochauflösenden Bildern mit Vergrößerungen von mehreren bis zu hunderttausenden Malen führt. Der Elektronenstrahl kann präzise gesteuert werden, um optimale Abbildungsbedingungen zu erreichen, sodass Anwender feine Oberflächendetails und strukturelle Informationen mit außergewöhnlicher Klarheit erfassen können. Ein wesentliches Merkmal der 7800H ist die variable Druckfähigkeit, die die Bildgebung und Analyse von Proben unter verschiedensten atmosphärischen Bedingungen ermöglicht. Diese Technologie ermöglicht es Benutzern, nichtleitende oder hydratisierte Proben zu studieren, ohne dass eine umfangreiche Probenvorbereitung erforderlich ist, wodurch sie ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Geologie, Biologie und Umweltwissenschaft geeignet ist. Der variable Druckmodus kann angepasst werden, um eine kontrollierte Umgebung innerhalb der SEM-Kammer zu schaffen, die Flexibilität und Vielseitigkeit für verschiedene Probentypen und Studienbedingungen bietet. Neben der hochauflösenden Bildgebung bietet HITACHI 7800H erweiterte Elementaranalysefunktionen durch energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS). Das in das Mikroskop integrierte EDS-System erfasst und analysiert die charakteristischen Röntgenstrahlen, die von der Probe emittiert werden, wenn sie mit dem Elektronenstrahl bombardiert werden. Auf diese Weise können Benutzer die elementare Zusammensetzung der Probe identifizieren und die Verteilung der Elemente über die Oberfläche mit hoher Empfindlichkeit und Genauigkeit abbilden. Die Kombination aus SEM-Bildgebung und EDS-Analyse liefert umfassende Informationen über die chemische Zusammensetzung und Struktur von Materialien im Mikro- und Nanobereich. 7800H verfügt auch über eine Reihe von fortgeschrittenen bildgebenden Modi und Techniken, um die Vielseitigkeit und Funktionalität des Instruments zu verbessern. Beispielsweise bietet das Mikroskop sekundäre Elektronenbildgebung für topographische Analysen, rückgestreute Elektronenbildgebung für kompositorischen Kontrast und Kathodolumineszenzbildgebung für die Untersuchung von lumineszierenden Materialien. Diese bildgebenden Modi können kombiniert und angepasst werden, um spezifische Forschungs- und Analyseanforderungen zu erfüllen, was HITACHI 7800H ein leistungsfähiges Werkzeug für eine Vielzahl von wissenschaftlichen Disziplinen macht. Darüber hinaus ist 7800H mit benutzerfreundlichen Software-Schnittstellen und intuitiven Bedienelementen konzipiert, um die Bedienung und Datenanalyse zu erleichtern. Das Mikroskop ist mit einer ausgeklügelten Bildgebungs- und Analysesoftware ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, Daten effizient und präzise zu erfassen, zu verarbeiten und zu visualisieren. Die Software ermöglicht eine einfache Steuerung von Bildgebungsparametern, Messwerkzeugen für die Bildanalyse und Integration von Bild- und Analysedaten zur umfassenden Charakterisierung von Proben. Zusammenfassend ist das HITACHI 7800H Rasterelektronenmikroskop ein hochmodernes analytisches Instrument, das hochauflösende Bildgebungs-, Elementaranalyse- und Oberflächencharakterisierungsfähigkeiten für eine breite Palette wissenschaftlicher und industrieller Anwendungen bietet. Mit fortschrittlicher Technologie, variabler Druckfähigkeit, elementaren Analyseeigenschaften und intuitiven Softwareschnittstellen bietet 7800H Forschern, Wissenschaftlern und Ingenieuren ein leistungsstarkes Werkzeug, um Materialien auf Mikro- und Nanoskala mit außergewöhnlicher Detailtreue und Präzision zu studieren.