Gebraucht HITACHI 9300 #293761941 zu verkaufen

HITACHI 9300
ID: 293761941
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2001
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8" 2001 vintage.
HITACHI 9300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende Bilder bereitstellt, ohne den Durchsatz zu beeinträchtigen. Sein einzigartiges Design ermöglicht eine schnelle Analyse und ermöglicht eine einfache Datenmanipulation und Kollatierung. Das SEM nutzt die CFE-Elektronenoptik (Cold Field Emission), um hochauflösende Bilder zu erzeugen. Sein Niederspannungsbetrieb macht es ideal für die Abbildung empfindlicher Proben. Ein fortschrittliches 3kV Hochvakuumsystem sorgt für eine hohe Quanteneffizienz und beseitigt Verunreinigungen. Das Mikroskop verfügt zudem über eine hohe Auflösung (besser als 1 nm) und eine niedrige Strahlendosis. 9300 in der Lage ist, eine breite Palette von Proben zu erfassen; von mikroelektronischen Komponenten bis hin zu biologischen Proben. Die eingebauten Vorbeschleunigungsfunktionen bieten eine variable Feldstärke für maximalen Signalkontrast, während sein leistungsfähiges Bilderfassungssystem eine schnelle Abbildung großer Teile einer Probe ermöglicht. Darüber hinaus ermöglicht die fortschrittliche Maschinenstruktur die Abbildung unterschiedlichster Materialien durch eine reduzierte Wärmebelastung und eine verbesserte Kühlgeschwindigkeit. Die integrierte Joystick-Bühne ermöglicht eine halbautomatisierte Bildaufnahme und Manipulation. Das SEM beherbergt auch einen Bordcomputer, der die Echtzeitanalyse von Proben ermöglicht. Es ist mit einem integrierten Echtzeitprozessor ausgestattet, der die Bildlatenz eliminiert und eine schnelle Bilddatenerfassung ermöglicht. Die Bildrekonstruktionsmöglichkeiten von HITACHI 9300 ermöglichen die Erstellung hochwertiger Verbundbilder, ideal für Anwendungen wie 3D-Bildgebung und Interessenanalyse. Seine hochmodernen elektromagnetischen Waffenschilddetektoren bieten eine verbesserte Rauschbeständigkeit und Bildqualität. Insgesamt ist 9300 ein zuverlässiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, perfekt für eine Reihe von bildgebenden Techniken. Es bietet hochauflösende Bilder unter Beibehaltung eines überlegenen Durchsatzes und seine breite Palette von Funktionen machen es zu einem wichtigen Werkzeug für die mikroskopische Bildgebung.
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