Gebraucht HITACHI CG 4100 #293827810 zu verkaufen

HITACHI CG 4000 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) für komplexe analytische und bildgebende Anwendungen. Es verfügt über ein erweitertes Sichtfeld bei hoher Vergrößerung, was eine überlegene Bildauflösung ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Modell über ein Aberrationskorrektursystem, mit dem der Benutzer die Leistung des Mikroskops feinjustieren kann. Dieses System ermöglicht die Einstellung von chromatischen, kugelförmigen, komatischen und astigmatischen Aberrationen. HITACHI CG4000 ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet. FEGs erzeugen einen stabileren, fokussierten Elektronenstrahl im Vergleich zu anderen konventionellen Elektronenkanonen. Dies wiederum ermöglicht eine hervorragende Bildauflösung. Darüber hinaus ermöglicht das Mikroskop die Verwendung eines Sekundärelektronendetektors zur detaillierten Analyse von Probenoberflächenstrukturen. Die Spitzenauflösung von CG-4000 ist besser als 0,6 nm und eignet sich daher für die nanoskalige Bildgebung und Analyse. Die Vergrößerung beträgt bis zu 500.000x, was dem Benutzer die Möglichkeit gibt, Objekte und Strukturen auf sehr kleinen Skalen anzuzeigen. Das Modell ist auch mit mehreren Abbildungsmodi ausgestattet, darunter Hellfeld, Dunkelfeld, rückgestreute Elektronen und mehrere Kontrast/Bildgebungsoptionen. Die rückgestreute Elektronenbildgebung ist eine ideale Technik zur Abbildung nichtleitender Materialien sowie zur Charakterisierung der Probenzusammensetzung. Darüber hinaus bietet HITACHI CG-4000 eine Vielzahl von Analysefunktionen, darunter EDAX Elementaranalyse, Tomographie und 3D-Messungen, automatisierte Partikelanalyse sowie automatische Videoaufnahme- und Wiedergabefunktionen. CG 4000 bietet auch eine Reihe von Beispielmanipulationsfunktionen. Auf diese Weise können Benutzer unterirdische Merkmale und Partikel identifizieren oder Proben mit höchster Präzision bewegen und analysieren. CG4000 bietet zusätzlich einen automatisierten Probenstufenbetrieb, der eine manuelle Ausrichtung der Probe überflüssig macht. HITACHI CG 4000 ist für den Einsatz in einer Vielzahl von Branchen und Forschungsbereichen wie Materialwissenschaft, Halbleiterherstellung und Nanotechnologie konzipiert. Es bietet modernste Funktionen wie ein erweitertes Sichtfeld und ein Aberrationskorrektursystem und ist ideal für sehr anspruchsvolle analytische und bildgebende Anwendungen.