Gebraucht HITACHI CG-5000 #9350302 zu verkaufen

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ID: 9350302
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2014
Scanning Electron Microscope (SEM), 12" (3) Ports Mini-environment transfer system Type C to C auto-loader With load lock system E-Chuck stage system Display unit Water circulator with power cable and pipe XL 10 Optical microscope: 220x Main power cable (PS): l5 m Electrified sample correction (SPM) Auto calibration system using stub pattern Multi-Point, gap, corner, radius measurement function Image filing function Recipe queue Shield cover for CG5000 Power supply unit: Ion pump back-up power supply unit SE-Gun back-up power supply unit Hardware: (3) TDK FOUP Openers RFID Included BOC EDWARDS iGX100 Dry pump interface HYNIX Spec signal light tower Light curtain X, Y Dual micro-scale Energy filter Ionizer Not included: HARC Observation function Pre-dose optics modification KRF Defect review network 1/F Power supply: AC 208 V, 60 Hz 2014 vintage.
HITACHI CG-5000 ist ein fortschrittliches Scanelektronenmikroskop (SEM), das für die anspruchsvolle Bildgebung und Analyse von Materialien auf mehreren Skalen entwickelt wurde. Dieses vielseitige Tool kombiniert die neueste Elektronenmikroskopie-Technologie, um eine schnelle, hochauflösende Bildgebung zu erreichen, und verfügt über eine robuste Palette von analytischen Instrumenten für ein breites Anwendungsspektrum. Das SEM-System bietet eine Reihe von bildgebenden und analytischen Funktionen für verschiedene Anwendungen, einschließlich herkömmlicher Bildgebung mit Sekundärelektron (SE), Rückstreuelektron (BSE) und Elektronenstrahl-induzierter Strom (EBIC) -Bildgebung. Darüber hinaus ist es in der Lage, variable Vakuum (VV) -Operationen und Echtzeit-energiedispersive Spektroskopie (EDS). Mit einer Feldemissionskanone (FEG) und einer computergestützten Einheit für Fliesen, Flächenscannen und 3D-Mapping können HITACHI- CG5000 genaue und zuverlässige Daten aus Materialproben erhalten. Für Bediener bietet CG 5000 eine intuitive Benutzeroberfläche mit einem proprietären Softwarepaket für verschiedene Anwendungen, wie automatische Bedienung und Bildverbesserung. Dieses Tool bietet auch grafische Module zur einfachen Überprüfung von Proben vor der Analyse sowie Datenspeicher- und Analysefunktionen. Zusätzlich enthält das Paket ein Bildmanipulationsobjekt zur genauen Messung, statistischen Analyse und 3D-Rekonstruktionsfähigkeit. Das Hochleistungsmodell basiert auf einer bemerkenswerten Oberhut-Scan-Stufe, die ein schnelles und gleichmäßiges Scannen der Probe ermöglicht. Viele Proben können mit einem einzigen Halter geladen werden, um die Ladezeit zu reduzieren und gleichzeitig eine ausgezeichnete Bildqualität bereitzustellen. Darüber hinaus macht es die geringe Größe von HITACHI CG 5000 sehr einfach, in jeder Laborumgebung zu installieren und zu warten. Für erweiterte Bild- und Datenerfassung können CG-5000 Geräte mit Zubehör ausgestattet werden, das eine erweiterte Bildgebung und Analyse ermöglicht. Dazu gehören ein Rasterübertragungselektronenmikroskop (STEM) und eine digitale Mikroskopiekamera zur Zeitrafferanalyse empfindlicher Proben. Das fortschrittliche System ermöglicht auch eine Reihe anderer analytischer Techniken, von der Elektronenholographie bis zur Vollfeld-Elektronentomographie. Insgesamt ist CG5000 SEM-Einheit ein außergewöhnliches Werkzeug zur Bildgebung und Analyse von Materialproben aus mehreren Maßstäben. Mit seinen erweiterten Funktionen, der intuitiven Benutzeroberfläche und automatisierten Funktionen ist HITACHI CG-5000 ein unschätzbares Gut für jedes Labor.
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