Gebraucht HITACHI FB-2000 FIB / HD-2000 #71521 zu verkaufen

HITACHI FB-2000 FIB/ HD-2000 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das die bildgebenden Fähigkeiten eines SEM mit der fokussierten Ionenstrahltechnologie (FIB) kombiniert. Durch die Kombination dieser beiden Technologien ermöglicht es die Bildgebung und Verarbeitung von Nanostrukturen. Mit der FIB-Technologie kann die Probe gefräst und für die Bildgebung vorbereitet werden und anschließend für die Bildgebung und Analyse höherer Auflösung gescannt werden. Das FB-2000 ist mit einer Hochleistungsfeldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die bei hohen Vergrößerungen und Auflösungen eine hervorragende Bildqualität bietet. Es verfügt auch über eine hochpräzise Stufe für Probe Positionierung und Manipulation. Dies ermöglicht eine genaue und wiederholbare Bildgebung einer Vielzahl von Probengrößen und -typen. Die FB-2000 ist in der Lage, in niedrigen, mittleren und hohen Vakuum-Modi abzubilden. Die HD-2000 ist ein neues Merkmal der FB-2000, die hohe Auflösung und schnelle Aufnahme von Bildern unterstützt. Es ermöglicht höhere Vergrößerungen und Auflösungen von bis zu 1000x, sowie automatisierte Verarbeitung und Analyse von Bildern. Die HD-2000 unterstützt auch das schnelle Scannen von Sichtfeldern und eignet sich somit perfekt für die flächenspezifische Analyse von Proben. In Bezug auf Zubehör ist das FB-2000 mit einer Vielzahl von Detektoren und Detektorsystemen kompatibel, darunter EDX, AALEN, SPM und BSE. Es unterstützt auch eine breite Palette von automatisierten Analyse- und Verarbeitungssoftware, die eine komplexe und umfassende Analyse von Proben ermöglicht. Die FB-2000/ HD-2000 verfügt auch über eine einfach zu bedienende Benutzeroberfläche, die die Bedienung einfach und intuitiv macht. Das Gerät enthält auch ein umfassendes Schulungshandbuch und Unterstützung durch ein engagiertes technisches Team, um sicherzustellen, dass die Benutzer das Beste aus ihrer Einheit herausholen. Insgesamt ist FB-2000 FIB/ HD-2000 eine ausgezeichnete Wahl für die Bildgebung und Analyse von Nanostrukturen. Mit seinen kombinierten FIB- und SEM-Fähigkeiten bietet es eine hervorragende Bildqualität bei hohen Auflösungen und Vergrößerungen. Seine breite Palette an Detektoren und Softwareprogrammen sowie seine intuitive Benutzeroberfläche machen es ideal für den Einsatz in einer Vielzahl von Anwendungen.