Gebraucht HITACHI FB-2000A #293775755 zu verkaufen

HITACHI FB-2000A ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das von der japanischen Firma HITACHI entwickelt wurde. Es handelt sich um einen fortgeschrittenen SEM-Typ, der verwendet wird, um die Oberfläche einer Probe zu untersuchen, um detaillierte Bilder zu erfassen und/oder die Oberfläche mit einer sehr hohen Auflösung zu analysieren. HITACHI FB 2000A ist mit einer breiten Palette von Funktionen und Technologien ausgestattet, so dass es überlegene Leistung zu bieten. Dieses SEM ermöglicht es dem Benutzer, detaillierte Bilder der Struktur einer Probe zu erhalten und verschiedene Eigenschaften und Merkmale bei einer hohen Vergrößerung zu identifizieren. Das SEM verfügt über eine Feldemissionselektronenquelle, die eine überlegene Detektionsempfindlichkeit, eine hohe Auflösung und einen niedrigen Rauschpegel gewährleistet. Darüber hinaus verfügt das Instrument über eine präzise automatisierte Fokusregelung sowie eine große, kippbare Kammer und einen Kühl-Feld-Lokaldetektor. FB-2000 A kann Proben verschiedener Größen, Formen und Materialien analysieren. Es ist in der Lage, sowohl nichtleitende als auch leitende Materialien mit großer Schärfentiefe abzubilden. Darüber hinaus ist das Instrument in der Lage, in Hoch- und Niedervakuumumgebungen zu arbeiten, und es kann Proben erkennen, die nass, trocken oder mit einer Vielzahl von Materialien beschichtet sind. FB 2000A ist auch mit einem leistungsfähigen Softwarepaket ausgestattet, das es dem Benutzer ermöglicht, das SEM effizient zu bedienen und Bilder und gesammelte Daten bequem zu speichern. Ferner umfasst das Instrument eine optionale Drehstufe, die die Abbildung dreidimensionaler Objekte ermöglicht. Es kommt auch mit einer Vielzahl von Zubehör, einschließlich einer umfassenden Liste von Musterhaltern und Detektoren. Insgesamt ist FB-2000A ein ausgezeichnetes SEM für die Untersuchung von Oberflächenmerkmalen auf verschiedenen Arten von Proben. Es ist mit fortschrittlichen Funktionen und Technologien ausgestattet, so dass der Benutzer überlegene Auflösungsbilder erhalten, Proben mit einer Vielzahl von Materialien analysieren und subtile Eigenschaften von Proben auf einem außergewöhnlichen Detailniveau erkennen kann.