Gebraucht HITACHI FB-2100 #293764023 zu verkaufen

ID: 293764023
Weinlese: 2009
Focused Ion Beam (FIB) system 2009 vintage.
HITACHI FB-2100 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine genaue Visualisierung nanoskaliger Strukturen ermöglicht. Es verwendet eine neue Elektronensäule, die eine Kaltfeld-Emissionskanone (FEG) für die Elektronenquelle verwendet und eine hohe Helligkeit und Stabilität erzeugt. Dieses hochmoderne Design sorgt für eine unglaublich kleine Fleckengröße von weniger als 1 nm. HITACHI FB 2100 verwendet eine elektrostatische Strahlablenkausrüstung, um das höchstmögliche Maß an MINT-Qualität zu gewährleisten und sowohl monochromatische als auch farbige Bildgebung zu schaffen. Dieses Rastermikroskop verfügt über ein fortschrittliches Aberrationskorrektursystem, das eine präzise Abbildung von Strukturen und Partikeln kleiner als ein Nanometer ermöglicht. Inzwischen ermöglicht die hochpräzise Fokussierung scharfe Bilder mit ausgezeichneter Auflösung und Kontrast. FB-2100 ist mit einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, einschließlich eines Sekundärelektronendetektors, eines rückgestreuten Elektronendetektors und eines Fluoreszenzdetektors. Dies ermöglicht mehrere Abbildungstechniken wie Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) und Elektronenrückstreuung (EBSD). Die EBSD-Technik eignet sich hervorragend zum Studium kristalliner Strukturen, während die AALEN-Technik verwendet werden kann, um den Energieverlust von Elektronen in Materialien zu untersuchen. FB 2100 verfügt auch über High-End-Probenhalter und -stufen, so dass es in verschiedenen SEM-Anwendungen wie Fehleranalyse und Dünnschichtanalyse verwendet werden kann. Es ist mit einem Autopreverstärker, Autofokus und einem automatisierten rückgestreuten Elektronendetektor ausgestattet, der eine individuelle Gerätesteuerung ermöglicht. Um die Effizienz zu maximieren, ermöglicht sein benutzerfreundliches Bedienfeld die automatische Einstellung der Einheit und die Datenübertragung. Insgesamt ist HITACHI FB-2100 ein hervorragendes Werkzeug zur Charakterisierung und Bildgebung von Nanomaterialien. Durch die Kombination von High-End-Elektronenoptik, Software und einfacher Maschinensteuerung bietet dieses Mikroskop beispiellose Leistung für Anwendungen im Bereich der Nanotechnologie.
Es liegen noch keine Bewertungen vor