Gebraucht HITACHI FC100Ⅱ #9217662 zu verkaufen

HITACHI FC100Ⅱ ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, hochauflösende Bilder von Objekten im nanoskopischen Maßstab genau zu erfassen. Dieses Mikroskop verwendet einen fokussierten Elektronenstrahl, um das Bild der beobachteten Probe zu scannen und zu erzeugen. Sie wandelt die Informationen dann elektronisch in eine digitale Form um, die auf einem begleitenden Monitor angezeigt wird. Der Betriebsbereich von FC100Ⅱ beträgt 0,7 bis 25 kV, so dass Anwender ihre gewünschten Bedingungen für die Bildgebung von Proben auswählen können. Sein Gerät verfügt auch über eine Neigungsstufe mit einem maximalen Neigungswinkel von 15 Grad für die Betrachtung von Proben aus verschiedenen Winkeln. Es kann mit mehreren Detektoren wie einem Sekundärelektronendetektor, einem Rückstreuelektronendetektor, einem Auger-Elektronendetektor und einem Röntgendetektor verwendet werden. Diese Detektoren ermöglichen verschiedene Arten der Bildgebung einschließlich topographischer, monochromatischer und kompositorischer Bildgebung. Dieses Mikroskop bietet eine Vielzahl von Funktionen, um seine bildgebende Fähigkeit zu verbessern. Es verwendet ein Bildstabilisierungssystem, um den Einfluss von Probendrift zu reduzieren, und eine automatisierte Fokussteuerung, um die Brennweite des Elektronenstrahls automatisch auf optimale Schärfe in der Bildgebung einzustellen. Es bietet auch eine einstellbare Probe Kippstufe, so dass Benutzer die Probe um voreingestellte Winkel für verbesserte Bildklarheit neigen. HITACHI FC100Ⅱ ist mit einer Reihe von Software ausgestattet, um Bildgebungsparameter wie Vergrößerung, Stromdichte und Scangeschwindigkeit zu steuern und auszuwählen. Es verfügt auch über eine „Diffraktogramm“ -Funktion, mit der Benutzer mehrere Bilder unter verschiedenen Strahlwinkeln gleichzeitig erfassen können, um die kompositionsempfindliche Differenzierung zu erleichtern. Dieses Gerät verfügt über eine intuitive Bedienoberfläche, um Benutzern aller Fähigkeiten die Bedienung des Mikroskops zu erleichtern. Dieses SEM verfügt über ein großes Sichtfeld von bis zu 8,2 mm, so dass es schnell großformatige Bilder aufnehmen kann. Es enthält auch ein einzigartiges Bilderfassungssystem, das es Benutzern ermöglicht, detaillierte 3D-Bilder von Objekten in viel kürzerer Zeit als mit anderen Modellen zu erfassen. Insgesamt ist FC100Ⅱ ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das es Benutzern ermöglicht, hochauflösende Bilder von Proben auf einem nanoskopischen Maßstab zu erfassen, unter Verwendung einer Vielzahl von Detektoren und Software und mit einer intuitiven Steuerschnittstelle. Es ist eine gute Wahl für diejenigen, die Präzisionsbildanalysen für ihre Forschung benötigen.