Unternehmen
Warum CAE?
Unsere Geschichte
Führung
Marktplatz
Frontend-Verarbeitungsgeräte
Diffusionsöfen & Zubehör
Radierer/Ascher
Verdampfer
Expositionssysteme
Flachbildschirm
Ionenimplantate und Monitore
Ionenfräsen
Laser
Maske & Wafer Inspektion
Maskenausrichter
Backend-Verarbeitungsgeräte
Wunder
Burn-in-Systeme
Die Attachers
Elektronisches Prüfgerät
Abschlussprüfung
Dressierer
Laser
Kennzeichnungsmaschinen
Öfen
Verpacken
PC Board Montage und Fertigungsausrüstung
PC Board Montage und Fertigung
PC-Board-Test
Leiterplattenlötmaschinen
Netzteile
Ersatzteile
Röntgenstrahl
Platzierungsmaschinen
Bildschirmdrucker
PC-Board-Inspektion
Reflow-Öfen
Laborausrüstung
Zentrifugen
Ellipsometer
Umweltkammern
Laborausrüstung und Zubehör
Laminare Strömung und Dunstabzugshauben
Laser
Lecksucher
Mikroskope
Optische Komparatoren
Öfen
Anlagenausrüstung
Kühler - Industrie
Kühlgeräte - Rezirkulieren, Wärmetauscher
Anlagenausrüstung
Gasschränke
Lecksucher
Werkzeugmaschinen
Partikelzähler
Netzteile
Pumpen
Restgasanalysatoren
Alle anzeigen
Karriere
Verfügbare Stellen
Trainingsprogramm
Kontakte
Suchen
0
English
Français
한국어
日本語
中文(繁體)
中文(简体)
Marktplatz
Rasterelektronenmikroskope
HITACHI
Focused Ion Beam (FIB)
#293754408
Gebraucht HITACHI Focused Ion Beam (FIB) #293754408 zu verkaufen
Aktie
E-Mail
Facebook
Twitter
Weibo
URL erfolgreich kopiert!
Preis anfordern
in den Warenkorb legen
Aus dem Warenkorb entfernen
Rasterelektronenmikroskope
Hersteller
HITACHI
Modell
Focused Ion Beam (FIB)
Ausrüstungsdetails
Rezensionen
ID:
293754408
Wafergröße:
8"
Weinlese:
2017
8" 2017 vintage.
Weiterlesen
Nahe
Es liegen noch keine Bewertungen vor
Bewertung hinzufügen
CAE verwendet Cookies, um Ihre Interaktion mit der Website zu verbessern.
Ja, ich stimme zu
Cookie-Richtlinie
