Gebraucht HITACHI FS200i II #293605451 zu verkaufen

HITACHI FS200i II ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für eine Vielzahl von Anwendungen. Es vereint die neuesten Technologien im elektronenoptischen Design, in der Bildanalyse und in der Probenvorbereitung, um klare und detaillierte Bilder einer Vielzahl von Materialien zu erzeugen, von Metallen bis zu Polymeren. Im Kern besteht FS200i II aus einem Multi-Mode Detektor. Dies ist ein leistungsstarkes Werkzeug zum Sammeln von Elektronenbildern einer Probe mit einer Auflösung von 1,2 nm. Der Multi-Mode-Detektor ermöglicht es Ihnen, zwischen drei Modi zu wechseln: sekundäre Elektronenbildgebung, rückgestreute Elektronenbildgebung und simultane Bildgebung. Darüber hinaus verwendet HITACHI FS200i II eine Cold Field Emission Gun. Dies ermöglicht die schnelle Beschleunigung von Elektronen. Die mit dieser Pistole beschleunigten Elektronen haben eine geringe Energie, was zu detaillierteren Bildern mit weniger Probenschäden führt. FS200i II nutzt die elektronenoptische Technik zur Bildung, Beschleunigung und Fokussierung des Elektronenstrahls auf die Probe. Dies geschieht unter Verwendung eines elektrostatischen Linsensystems. Die inneren Linsen dieses Systems befinden sich auf der Rückseite des Systems und dienen der Steuerung und Fokussierung des Elektronenstrahls. Die wichtigsten analytischen und bildgebenden Fähigkeiten von HITACHI FS200i II umfassen: Rasterelektronentopogaphie, energiedispersive Röntgenanalyse, Röntgenelementkartierung und sekundäre Elektronenbildgebung. Mit diesen Methoden lassen sich verschiedenste Materialien analysieren und charakterisieren. Darüber hinaus verfügt FS200i II über fortschrittliche Probenvorbereitungstechniken: Niedervakuum, Hochvakuum, Seiteneingang-Pt/Pd-Beschichtungsanlage und Niedervakuum-Ätzverfahren. Mit der Low-Vacuum-Technik können einige Schritte der Verarbeitung durchgeführt werden, ohne das Vakuum zu brechen. Dies ermöglicht eine einfache Probenhandhabung und Kontaminationskontrolle. Um den Bedürfnissen der Bildungseinrichtungen gerecht zu werden, steht HITACHI FS200i II sowohl in Klassen- als auch in Laborversionen zur Verfügung. In der pädagogischen Version ermöglicht das Mikroskop dem Benutzer, zwischen verschiedenen Linsen zu wechseln, um die Mikroskopieintensität und -auflösung anzupassen. Abschließend bietet das Rasterelektronenmikroskop FS200i II eine hervorragende Bildklarheit, eine Vielzahl vielseitiger Analysemethoden und fortschrittliche Probenaufbereitungstechniken. Es ist in der Lage, klare, hochauflösende Bilder in einer breiten Palette von Materialien zu produzieren, was es zu einem vielseitigen und leistungsstarken Werkzeug für Forschung und Bildung macht.