Gebraucht HITACHI FS300i Type II #293602597 zu verkaufen

ID: 293602597
Weinlese: 2008
Scanning Acoustic Tomography (SAT) system Detector: 15 MHz / 25 MHz / 50 MHz Scanning speed: 1000 mm/s Resolution: 0.5 µm Gain: 60 dB Scan area: 320 mm x 320 mm T-Scan area: 120 mm x 290 mm T-Scan probe: 15- 25 MHz Gate scan: 64 Probe: 15-200 MHz S-Image Z-Scan 2008 vintage.
HITACHI FS300i Type II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für den Einsatz in einer Vielzahl von Anwendungen wie Materialwissenschaft, Fehleranalyse und Prozesskontrollanalyse entwickelt wurde. Dieses fortschrittliche Gerät ist mit einer automatisierten Stufe, erweiterten Bildgebungsfunktionen und einem integrierten Rechensystem ausgestattet, so dass es eine breite Palette von Fähigkeiten und Anwendungen bereitstellen kann. FS300i Typ II ist mit einer Stufe von 205 mm Durchmesser mit einer Tragfähigkeit von 5,6 kg ausgestattet, die es ermöglicht, eine Vielzahl von Proben zu bearbeiten. Dieses Gerät wird von einer 7-kW-Stromquelle angetrieben und ist mit einer Hochdurchsatz-X/Y-Neigungsstufe ausgestattet, die Messungen bis ± 60 ° drehen kann. Die Bühne ist zudem mit einer Autofokus-Maschine ausgestattet, die eine automatisierte Bildaufnahme und -verarbeitung ermöglicht. In Bezug auf die bildgebende Hardware ist HITACHI FS300i Type II mit einem 4k x 256 Hybrid Lens Tool (HLS) ausgestattet, das eine Mindestfleckgröße von 0,5 µm aufweist. Diese Anlage verfügt auch über eine halbautomatische Betriebsart, die die Einstellung von Parametern wie Strahlstrom, Landegeschwindigkeit und Driftkorrektur ermöglicht. Darüber hinaus ist das Modell dynamisch fokussierbar und verfügt über eine automatische Justiereinrichtung, um eine optimale Übersichtlichkeit zu gewährleisten. Softwaremäßig ist FS300i Typ II mit einem integrierten Rechensystem ausgestattet, das umfangreiche Mess- und Analysefähigkeiten bietet. Diese Einheit ist in der Lage, SEM-Elementaranalysen und Linienabtastmusteranalysen sowie statistische Analyse- und Bildanalysefunktionen durchzuführen. Die integrierte Rechenmaschine umfasst auch eine Hochleistungs-Bildverarbeitungsmaschine, die verschiedene Parameter wie Größe, Form, Textur und Korngrenzen erfassen und messen kann. Insgesamt ist HITACHI FS300i Type II ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das in einer Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden kann. Mit seiner automatisierten Phase, den fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen und dem integrierten Rechenwerkzeug ermöglicht dieses Asset Benutzern eine schnelle und genaue Analyse einer Vielzahl von Proben. Darüber hinaus ermöglicht der halbautomatische Betriebsmodus und das automatische Anpassungsmodell den Anwendern, Änderungen am Muster schnell zu erkennen und erforderliche Anpassungen vorzunehmen.
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