Gebraucht HITACHI FS300i Type II #9203965 zu verkaufen

ID: 9203965
Scanning Acoustic Tomography (SAT) system Probe frequency range: 15 / 25 / 50 / 75 / 85 / 140 / 200 MHz Scan area: 360 x 310 x 80 mm Scan speed: 1000 mm/s Image pixels: 8192 x 8192 Scanner resolution: 0.5 um Through probe: 15 to 75 MHz Scan mode: A-Scan C-Scan T-Scan Output data format: TIF, JPG Index data: Image and note Operating system: Windows XP Electrical power: 100V, 15A, 50/60Hz.
HITACHI FS300i Type II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für den Einsatz in der Mikroanalyse. Es ist ein Low-Vakuum-SEM (LV-SEM), das eine Cold Field Emission High Brightness Source (FEG-HBS) verwendet, die hochauflösende Bildgebungsfunktionen bietet. Das SEM ist in der Lage, Bilder in einem Energiebereich von 0,5 - 30 kV zu erhalten, und ist mit einer Probenstufe ausgestattet, die verschiedene Größen und Formen von Proben unterstützt. Das LV-SEM bietet die neueste Technologie in der bildgebenden Leistung und im automatisierten Betrieb. Es verwendet ein Hyper Face Mapping Equipment (HFMS), mit dem Proben gleichzeitig aus drei Richtungen gescannt werden können. Dieses System ermöglicht auch den Vergleich von Musterdaten und bietet dem Anwender eine hochgenaue Analyse. Das SEM verfügt auch über eine Auto Feature Review (AFR), die automatisch Funktionen von Interesse identifiziert und die Bildgebungsparameter in Echtzeit anpasst, um die Bildqualität zu maximieren. FS300i Typ II bietet überlegene Auflösung und Kontrast. Seine Cold Field Emission High Brightness Source erzeugt einen hochfokussierten Elektronenstrahl, der die Erfassung hochauflösender Bilder mit niedrigem Rauschpegel ermöglicht. Der Elektronenstrahl wird ebenfalls auf einem stabilen Strom gehalten, was ein konsistentes Signal-Rausch-Verhältnis gewährleistet. Das Gerät ist sowohl benutzerfreundlich als auch wartungsarm. Sein ergonomisches Design ermöglicht eine einfache und komfortable Interaktion mit dem SEM, während seine selbstkalibrierende Objektivlinse auch nach langer Inaktivität ihre Leistung aufrechterhält. Die eingebaute Luft-Vakuum-Maschine sorgt auch für eine schnelle und kompatible Umgebung für Live-Proben. HITACHI FS300i Type II ist mit einer Vielzahl von Softwarefunktionen ausgestattet. Zu diesen Funktionen gehören Automatisiertes Stapelverstopfen und Vereinheitlichen (ABU), Off-axis Back-Scattered Imaging (OBI) und Curve Fitting, die alle ihre Funktionen für den Einsatz in verschiedenen Anwendungen verbessern. Es ist auch mit einer großen Auswahl an Detektoren und bildgebendem Zubehör kompatibel. FS300i Typ II ist eine ideale Wahl für jedes Forschungslabor, das ein leistungsstarkes, hochauflösendes SEM benötigt. Mit seiner hohen Helligkeitsquelle, automatisierten Operationen, ergonomischem Design und Softwarefunktionen bietet es Anwendern ein effizientes und zuverlässiges Werkzeug, um optimale Analyseergebnisse zu erzielen.
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